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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測量儀表>泰克推出帶KTE V7.1軟件的S530參數(shù)測試系統(tǒng),加速半導體芯片生產(chǎn)

泰克推出帶KTE V7.1軟件的S530參數(shù)測試系統(tǒng),加速半導體芯片生產(chǎn)

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2019-07-24 08:21:23

是不是所有的半導體生產(chǎn)廠商對所有的器件都需要進行老化測試

` 不是所有的半導體生產(chǎn)廠商對所有的器件都需要進行老化測試。普通器件制造由于對生產(chǎn)制程比較了解,因此可以預先掌握通過由統(tǒng)計得出的失效預計值。如果實際故障率高于預期值,就需要再做老化測試,提高實際可靠性以滿足用戶的要求。宜特`
2019-08-02 17:08:06

智能天線S參數(shù)自動化測試系統(tǒng)NSAT-1000方案參數(shù)分享

本帖最后由 namisoft 于 2022-3-15 18:08 編輯   對于大規(guī)模天線生產(chǎn)行業(yè)而言,實現(xiàn)天線自動化測試是非常有必要的。因此衍生了智能天線S參數(shù)自動化測試系統(tǒng),依托于測試終端
2022-03-15 17:39:49

求一種基于TS-900的PXI半導體測試系統(tǒng)解決方案

半導體測試有何要求?對半導體測試有哪幾種方式?如何對數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測試
2021-07-30 06:27:39

深圳市太古半導體

本帖最后由 sz***xkj 于 2017-8-3 14:55 編輯 深圳市太古半導體有限公司是一家專注于集成電路產(chǎn)品設計、生產(chǎn)、銷售的高科技企業(yè),致力于為客戶提供靈活、高效、可靠的芯片服務
2015-11-19 12:56:10

現(xiàn)貨銷售安捷倫4155C半導體參數(shù)分析儀4155c

數(shù)據(jù)分析和應用測試開發(fā)描述Keysight 4155C 半導體參數(shù)分析儀是一款經(jīng)濟高效、精確、適用于先進器件表征的實驗室用臺式解決方案。41501B Expander 可將儀器的測量范圍擴展至 1A
2021-12-07 08:44:30

電子、半導體物流、生產(chǎn)類經(jīng)理

合肥地區(qū)知名新能源企業(yè)招聘生產(chǎn)計劃經(jīng)理、物流經(jīng)理。生產(chǎn)計劃經(jīng)理:1.大學本科及以上學歷(個別優(yōu)秀人員條件可放開)2.安徽籍或已在安徽定居或有意到安徽長期奮斗的人士3.電子、半導體或者新能源背景4.5
2012-05-10 10:56:49

美國原裝二手 Tektronix370A 晶體管測試儀370B

輔助電源屏幕讀數(shù)信封顯示數(shù)字存儲顯示和非存儲模式波形平均 370 是一款曲線跟蹤儀,可為晶體管、晶閘管、二極管、SCR、MOSFET、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示器和其他半導體器件提供直流參數(shù)
2021-07-20 18:33:20

美國國家半導體推出兩款功能更齊備的高集成度單芯片 Boomer 音頻子系統(tǒng)(圖)

正是美國國家半導體 Boomer 系列產(chǎn)品一直備受業(yè)界推崇的優(yōu)點。」   技術(shù)高度集成、只需極少軟件支持  美國國家半導體的 LM4859 芯片是一款高度集成的音頻子系統(tǒng),可以利用 2.7 伏 (V
2008-09-10 21:36:16

美國國家半導體推出兩款功能更齊備的高集成度單芯片 Boomer 音頻子系統(tǒng)(圖)

正是美國國家半導體 Boomer 系列產(chǎn)品一直備受業(yè)界推崇的優(yōu)點。」   技術(shù)高度集成、只需極少軟件支持  美國國家半導體的 LM4859 芯片是一款高度集成的音頻子系統(tǒng),可以利用 2.7 伏 (V
2008-09-13 15:35:24

高達33GHz帶寬的實時示波器

為大步超越業(yè)界之前32GHz(2通道)的同類領(lǐng)先競爭方案,公司一氣呵成,于近日推出在全部4個通道上均可提供高達33GHz帶寬的高精度示波器新品DPO/DSA70000D系列,并宣布收購擁有互補
2019-06-03 06:06:32

半導體FT客制化測試系統(tǒng)

聯(lián)合儀器MEMS測試系統(tǒng)UI320A采用測試機加轉(zhuǎn)臺的構(gòu)架,是對MEMS陀螺儀和加速度計的測試平臺。可對MEMS傳感器芯片進行測試,支持I2C/SPI的通訊方式,提供免費的開源軟件底層API基于C開發(fā),支持VC,VC++,labview等。
2021-12-01 11:34:09

MEMS芯片測試系統(tǒng)

配合測試軟件對MEMS傳感器進行一系列的DC參數(shù)測試和功能測試。廣泛應用與MEMS傳感器開發(fā)與調(diào)試、生產(chǎn)與下線檢測。為了方便用戶適用,聯(lián)合儀器可以提供系統(tǒng)級API接
2021-12-13 17:15:49

半導體激光器BAR條/疊陣老化測試

      作為專業(yè)從事精密自動化設備、半導體專用設備、精密儀器等戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)的企業(yè),無錫華琛半導體設備有限公司憑借對半導體激光器芯片設計、生產(chǎn)和封裝測試等各個環(huán)節(jié)
2022-06-13 11:44:34

PI Expert v7.1下載

PI Expert Suite v7.1包括如下三個部分: PI Expert: 設計軟件是一個交互程序,根據(jù)用戶的電源規(guī)格自動生成一些關(guān)鍵元件(包括變壓器規(guī)格)的有
2009-06-21 12:17:201962

MPLAB IDE集成開發(fā)環(huán)境MPLAB V7.1

MPLAB IDE集成開發(fā)環(huán)境MPLAB V7.1
2010-04-23 11:31:3636

高精度半導體芯片推拉力測試儀免費測樣品

高精度半導體芯片推拉力測試儀免費測樣品半導體芯片測試半導體制造過程中非常重要的一環(huán)。芯片測試流程:芯片測試一般分為兩個階段,一個是CP(Chip Probing)測試,也就是晶圓(Wafer)測試
2023-08-22 17:54:57

PCS 7 V7.1 SP1 APL庫閥門功能塊VlvL使用

本文介紹了PCS7 V7.1 SP1中APL庫VlvL閥門塊的基本使用、保護控制及一些擴展功能。關(guān)鍵詞 APL,VlvL,Key Words APL,VlvL
2010-08-08 10:13:4519

#芯片設計 #半導體 #芯片封裝 半導體芯片制造后道工藝,封裝測試.

芯片設計封裝測試芯片測試芯片封裝半導體芯片
學習電子知識發(fā)布于 2022-10-06 19:18:34

proteus V7.1仿真軟件

軟件版權(quán)歸原作者及原軟件公司所有,如果你喜歡,請購買正版軟件。 壓縮包內(nèi)包含破解文件,安裝完軟件后把path包內(nèi)的文件復制到安裝目錄中及可完成注冊 還有ISIS和ARMS的漢化菜單,注意使用時最好備份源文件 PROTEUS 7.1 新增功能 ISIS 部分: 全新的用戶界面
2011-01-25 23:00:291301

吉時利全自動化生產(chǎn)參數(shù)測試方案-S530參數(shù)測試系統(tǒng)

吉時利儀器提升全自動化生產(chǎn)參數(shù)測試方案——S530參數(shù)測試系統(tǒng)產(chǎn)品線在幾個方面的性能,這些性能提升包括增加了吉時利新的高吞吐量開關(guān)主機用于高完整性的信號切換
2011-02-14 09:21:581465

吉時利推出半導體測試軟件升級版KTE 5.3

吉時利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評的吉時利測試環(huán)境(KTE半導體測試軟件的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時利迄今為止最快、最經(jīng)濟有效的過程控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測試系統(tǒng)
2011-09-20 08:45:44654

S530參數(shù)測試系統(tǒng)數(shù)據(jù)手冊

吉時利的S530參數(shù)測試系統(tǒng)采用了成熟的源和測量技術(shù),可滿足工藝控制監(jiān)測、工藝可靠性監(jiān)測以及器件特性分析所需的全部直流和C-V測量。 針對高混合測試環(huán)境優(yōu)化設計 S530參數(shù)測試
2011-09-28 18:23:1619

吉時利儀器擴展S530參數(shù)測試系統(tǒng)量測能力

  吉時利儀器公司持續(xù)強化S530參數(shù)測試系統(tǒng),使這款測試系統(tǒng)成為半導體業(yè)界高速產(chǎn)品參數(shù)測試最具成本效益的解決方案。在最新版本吉時利測試環(huán)境軟體(KTE V5.4)的支援下,S530
2012-03-28 09:20:20860

吉時利儀器增強了S530參數(shù)測試系統(tǒng)的測量功能

吉時利儀器公司不斷增強半導體行業(yè)性價比最高的高速生產(chǎn)參數(shù)測試方案——S530參數(shù)測試系統(tǒng)的功能。由于有吉時利測試環(huán)境軟件KTE V5.4)的支持,S530目前配置為48引腳全Kelvin開關(guān)以
2012-03-30 11:05:19836

重慶萬國半導體12英寸功率半導體芯片正式進入試生產(chǎn)階段

6月,在兩江新區(qū)水土高新生態(tài)城的一間廠房內(nèi),重慶萬國半導體科技有限公司(以下簡稱“重慶萬國”)半導體12英寸功率半導體芯片制造及封裝測試生產(chǎn)項目正式進入試生產(chǎn)階段。
2018-07-01 10:21:004800

南牛異步電機設計軟件V7.1免費版應用程序免費下載

本文檔的主要內(nèi)容詳細介紹的是南牛異步電機設計軟件V7.1免費版應用程序免費下載。
2018-09-04 08:00:000

利用?NI?半導體?測試?系統(tǒng)?(STS)?軟件?的?增強?功能,?加速?測試?程序?開發(fā),?提高?運營?

國家儀器該公司于今日推出了STS軟件的最新增強功能,這些功能可顯著提升NI半導體測試系統(tǒng)的編程和調(diào)試體驗,并大大提高測試執(zhí)行速度、并行測試效率和整體設備效率。
2019-10-14 14:30:52910

半導體測試—優(yōu)質(zhì)好文推薦

半導體測試貫穿設計、生產(chǎn)過程的核心環(huán)節(jié)。半導體測試就是通過測量半導體的輸出響應和預期輸出并進行比較以確定或評估集成電路功能和性能的過程,其測試內(nèi)容主要為電學參數(shù)測試。一般來說,每個芯片都要經(jīng)過兩類
2020-10-30 04:08:07808

半導體測試芯片測試一樣嗎?答案是這樣

最近有很多人問到,半導體測試和IC現(xiàn)貨芯片測試是一回事嗎?今天安瑪科技小編為大家解惑。 半導體測試并不一定等同于IC現(xiàn)貨芯片測試,兩者也不完全是一回事。半導體測試實際上是半導體設備中的一項技術(shù)
2023-04-17 18:09:36858

半導體芯片測試/半導體可靠性測試

為什么要進行半導體芯片測試?芯片測試的目的是在找出沒問題的芯片的同時盡量節(jié)約成本。芯片復雜度越來越高,為了保證出廠的芯片質(zhì)量不出任何問題,需要在出廠前進行測試以確保功能完整性等。而芯片作為一個大
2022-12-29 16:33:292383

半導體測試系統(tǒng) 芯片自動化測試軟件 可定制測試方案ATECLOUD-IC

測試產(chǎn)品:芯片半導體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結(jié)型場效應管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導體分立器件綜合性能自動化測試
2023-06-20 16:55:17767

廣立微推出新一代通用型高性能半導體參數(shù)測試系統(tǒng)T4000

近日,杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了新一代通用型高性能半導體參數(shù)測試系統(tǒng)T4000。該系列產(chǎn)品是對公司現(xiàn)有并行perpin測試設備T4100S的重要補充,能夠覆蓋不同用戶的使用需求。T4000
2023-07-03 11:44:22479

芯片測試大講堂——半導體參數(shù)測試與避坑指南

芯片測試大講堂系列 又和大家見面了 本期我們來聊聊 半導體參數(shù)測試 內(nèi)容涉及半導體參數(shù)測試原理, 參數(shù)測試面臨的挑戰(zhàn)與實測避坑指南。 前言 ● 半導體元器件是構(gòu)成現(xiàn)代電子設備和系統(tǒng)的基礎,其性能
2023-09-13 07:45:021210

半導體靜態(tài)測試參數(shù)是什么?納米軟件半導體參數(shù)分析系統(tǒng)能否滿足測試指標?

半導體靜態(tài)測試參數(shù)是指在直流條件下對其進行測試,目的是為了判斷半導體分立器件在直流條件下的性能,主要是測試半導體器件在工作過程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導體測試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測試工程師提供整體解決方案,此系統(tǒng)可程控,可以實現(xiàn)隨時隨地測試,移動端也可實時監(jiān)控測試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:30415

納米軟件半導體測試廠家助力半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試

半導體動態(tài)測試參數(shù)是指在交流條件下對器件進行測試,是確保半導體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動態(tài)測試參數(shù)主要有開關(guān)時間、開關(guān)損耗、反向恢復電流、開關(guān)電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:38278

如何用納米軟件半導體老化測試系統(tǒng)測試芯片老化?

芯片老化測試的目的是為了評估芯片長期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性,以確保芯片系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測試的內(nèi)容及注意事項,今天我們將分享如何用納米軟件半導體老化測試系統(tǒng)測試芯片老化。
2023-10-16 15:49:32469

聯(lián)訊儀器WAT半導體參數(shù)測試系統(tǒng)簡介

聯(lián)訊儀器WAT 半導體參數(shù)測試系統(tǒng)基于自主研發(fā)pA/亞pA高精度源表,半導體矩陣開關(guān),高電壓半導體脈沖源,3500V高壓源表等基礎儀表,掌握核心技術(shù),通過優(yōu)化整機軟硬件設計,進一步提高系統(tǒng)精度,提升
2023-11-06 16:27:57467

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