計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中元件和系統(tǒng)的測(cè)試和診斷帶來(lái)了許多特殊挑戰(zhàn)。有時(shí)候難以連接所需的準(zhǔn)確測(cè)試點(diǎn)。高密度、多層電路板以及引腳細(xì)小的密集元件造成電壓表的探測(cè)非常困難。當(dāng)系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)，輕輕滑動(dòng)一下探針就可能造成災(zāi)難性的短路。而測(cè)試測(cè)量的目的是發(fā)現(xiàn)并修復(fù)問(wèn)題，同時(shí)避免引發(fā)更嚴(yán)重的損壞。

解決這一難題的方案有很多，我們接下來(lái)討論可用于探測(cè)電路板上安裝的器件和元件的一些方法。

單點(diǎn)探頭是最常見(jiàn)也是最顯而易見(jiàn)的探測(cè)方法。大多數(shù)數(shù)字萬(wàn)用表（DMM）都提供一組測(cè)試線，對(duì)于各種各樣的測(cè)試場(chǎng)景非常有用。這種類(lèi)型的探頭非常適合于檢查電源電壓或檢查備用電池。但是，這些探頭大多數(shù)太大，不適合高密度電路板。這些探頭很容易滑動(dòng)，損害其他元件或造成短路。此類(lèi)DMM探頭上的探針直徑通常為大約0.080“，觸點(diǎn)不尖銳。再加上日常磨損造成探針被磨圓，就形成了幾乎不可能完成的任務(wù)。可以將這些探針磨尖，但如果沒(méi)有了外部鍍層，底層的金屬很容易快速變色。

連接高密度電路板上小接觸點(diǎn)的最佳方法是使用非常尖銳的探針。雖然尖探針很容易損壞，但由于沒(méi)有鍍層，很容易重新磨尖。多家制造商都提供帶有容易更換尖探針的探頭。不銹鋼尖探針從0.080”直徑開(kāi)始，呈錐形形成極尖的針尖。另一種探針從0.040”直徑的不銹鋼開(kāi)始，呈錐形逐漸形成長(zhǎng)而尖的探針。這種探針也非常適合狹窄的小空間，憑借鋒利的尖端，不太容易打滑。

另一種多用途工具是帶有可伸縮探針的探頭。這些探頭采用直徑很細(xì)（0.040”）的不銹鋼絲，通常除探頭最末端之外全部包覆有絕緣層，可防止意外接觸。憑借諸如此類(lèi)的探針，可將探頭的范圍擴(kuò)展到長(zhǎng)達(dá)3英寸。除了能夠用于難以觸及的測(cè)試點(diǎn)，纖細(xì)的長(zhǎng)探針也有利于改善被探測(cè)點(diǎn)的可見(jiàn)性。

不銹鋼是制造尖銳觸點(diǎn)的好材料，但卻是糟糕的電導(dǎo)體選擇。此外，經(jīng)過(guò)重復(fù)磨尖，探針可能會(huì)被磨損，變得太短，以至于不能探測(cè)狹小的空間。當(dāng)然，可以更換新的探針，但仍然不能解決不銹鋼固有電阻的問(wèn)題。有解決方案可解決這一問(wèn)題。精密電子探針采用標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備（ATE）探頭，因其探針的原因而常被稱(chēng)為“彈簧針”。這種彈簧針具有各種各樣的配置，隨時(shí)可用。實(shí)際上，許多用戶可能已經(jīng)發(fā)現(xiàn)其生產(chǎn)測(cè)試領(lǐng)域使用這種探針。這種探頭不僅具有可更換的探針，而且非常小，足以深入到比全尺寸探頭更狹小的空間。

在有些情況下，要求連接保持在原位。如果測(cè)試點(diǎn)容易連接，最好的方法是使用掛鉤或刺針。這些測(cè)試夾具的來(lái)源很多，有不同的尺寸。早期的一些測(cè)試夾旨在用于總線或電子配線；與現(xiàn)在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的微型元件相比，這些配線看起來(lái)相當(dāng)大。

現(xiàn)在多家公司提供帶有微型線鉤和刺針的IC測(cè)試夾，非常細(xì)，能夠適合一些最細(xì)小的元件引腳。這些線鉤測(cè)試夾可連接到QFP封裝、3mm焊距的元件。甚至可以多達(dá)5、6個(gè)測(cè)試夾并排連接相鄰的0.5mm芯片引腳。只要同時(shí)需要連接的引腳不太多，這些測(cè)試夾就是滿足需求的完美選擇。

IC測(cè)試夾是探測(cè)IC芯片上大量引腳的理想解決方案，也非常適用于在眾多引腳中查找某個(gè)引腳。當(dāng)引腳很多時(shí)，很容易搞不清楚芯片某一側(cè)的引腳編號(hào)。利用IC測(cè)試夾，能夠可靠連接需要探測(cè)的很多芯片引腳，不會(huì)損壞芯片。IC測(cè)試夾適用于從雙列直插封裝（DIP）到方形扁平封裝（QFP）的大多數(shù)芯片封裝形式。

IC測(cè)試夾也解決了其他許多問(wèn)題。如果您需要連接某個(gè)QFP芯片的所有引腳，怎么辦呢？當(dāng)然，您可以將短引線焊接到每個(gè)芯片引腳，然后利用上述小線鉤連接引線。這完全可以，但將這些細(xì)小的導(dǎo)線焊接到芯片需要花費(fèi)大量時(shí)間。此外，您如何解釋微處理器上新長(zhǎng)的“頭發(fā)”？那么，您如何連接到芯片？答案就是IC測(cè)試夾對(duì)于大多數(shù)主流IC芯片，都有一款適合的IC測(cè)試夾。這些測(cè)試夾適合安裝在芯片頂部，每個(gè)芯片引腳有一個(gè)接觸點(diǎn)。測(cè)試夾也有一組編號(hào)的接觸引腳，支持大量連接到邏輯分析儀或示波器。

大多數(shù)人很少注意到測(cè)試線，直到為時(shí)已晚。那么我們需要了解測(cè)試線和探頭的哪些信息呢？最重要的因素是安全問(wèn)題、材料，以及要求的精度水平。比如安全性往往會(huì)被忽視。如果您的工作僅限于30V以下的電子電路，那么測(cè)試線的設(shè)計(jì)實(shí)際上不會(huì)存在安全問(wèn)題。如果您需要在較高電壓或靠近配電線路的地方使用測(cè)試線，就需要使用具有正確標(biāo)識(shí)和額定等級(jí)的測(cè)試線。

測(cè)試線所用材料會(huì)影響讀數(shù)。如果嘗試測(cè)量極低電壓（比如微伏范圍）或者極低電阻，制造測(cè)試線所用的異金屬會(huì)引入誤差，且難以跟蹤。不同金屬之間的觸點(diǎn)會(huì)作為熱電偶，自身會(huì)產(chǎn)生電壓。專(zhuān)門(mén)針對(duì)低壓測(cè)量特殊設(shè)計(jì)的低熱電勢(shì)EMF測(cè)試線能夠最大程度降低測(cè)量通路上微小溫差引起的誤差。這些測(cè)試線價(jià)格略貴，但能夠提供高精度電壓和電阻測(cè)量，可達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后6位。

在大多數(shù)情況下，您所用測(cè)試線的物理狀態(tài)可能是影響測(cè)量的最重要因素。松動(dòng)的連接或腐蝕的插頭或探針會(huì)導(dǎo)致間歇性或錯(cuò)誤讀數(shù)。最簡(jiǎn)單的方法是發(fā)現(xiàn)可能存在問(wèn)題時(shí)盡快更換測(cè)試線。您永遠(yuǎn)無(wú)法判斷何時(shí)需要進(jìn)行關(guān)鍵測(cè)量。與數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確造成的費(fèi)用相比，一組測(cè)試線的費(fèi)用不值一提。

從現(xiàn)在起，選擇正確的測(cè)試探頭完成您的測(cè)試工作！

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