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如何有效地測量SiC MOSFET

一曲作罷 ? 來源:一曲作罷 ? 作者:一曲作罷 ? 2022-07-27 11:03 ? 次閱讀

碳化硅二極管多為肖特基二極管。第一個商用 SiC 肖特基二極管是在 10 多年前推出的。從那時起,這些設備已被整合到許多電源系統(tǒng)中。二極管升級為 SiC 功率開關,例如 JFET、BJT 和 MOSFET目前可提供擊穿電壓為 600 至 1,700 V、額定電流為 1 至 60 A 的 SiC 開關。這里的重點是如何有效地測量 SiC MOSFET。

poYBAGLeM5aAXihjAABJ2ohmuzU499.jpg圖 1:第一款商用 SiC MOSEFT,CMF20120D

SiC 二極管
最初,可以使用簡單的二極管,但隨著技術進步,生產(chǎn)升級的 JFET、MOSFET 和雙極晶體管SiC 肖特基二極管具有更高的開關性能、效率、功率密度和更低的系統(tǒng)成本。這些二極管提供零反向恢復、低正向壓降、電流穩(wěn)定性、高浪涌電壓能力和正溫度系數(shù)。

新二極管面向各種應用的電源轉(zhuǎn)換器設計人員,包括光伏太陽能逆變器、電動汽車 (EV) 充電器、電源和汽車應用。與硅相比,它具有更低的漏電流和更高的摻雜。一個重要的特性是高溫下的行為:隨著溫度的升高,硅的直接特性會發(fā)生很大變化。碳化硅是一種非常堅固和可靠的材料。然而,在 SiC 的情況下,它仍然局限在小范圍內(nèi)。

讓我們來看看 SiC 二極管
SiC 二極管原型 待測試的 SiC 二極管示例是 SCS205KG 模型,它是 Rohm 的 SiC 肖特基勢壘二極管(圖 2)。以下是它的一些最重要的功能:

  • 電壓:1,200 伏
  • 如果:5 A(+150°C 時)
  • 浪涌非重復正向電流:23 A(PW = 10 ms 正弦波,Tj = 25°C)
  • 浪涌非重復正向電流:17 A(PW = 10 ms 正弦波,Tj = 150°C)
  • 浪涌非重復正向電流:80 A(PW = 10 μs 平方,Tj = 25°C)
  • 總功耗:88 W
  • 結(jié)溫:175°C
  • TO-220AC 封裝
pYYBAGLeM6OAKsdQAAA6QVtuDMQ126.jpg圖 2:Rohm 的 SCS205KG SiC 二極管

這是一個非常強大的組件,具有較短的恢復時間和高速開關。其官方 SPICE 模型允許在任何條件下對組件進行仿真

* SCS205KG
* SiC 肖特基勢壘二極管型號
* 1200V 5A
* ROHM 生產(chǎn)的型號
* 版權所有
* 日期:2015/11/16
*****************AC
.SUBCKT SCS205KG 1 2
.PARAM T0=25
.FUNC R1(I) {40.48m*I*EXP((TEMP-T0)/155.8)}
.FUNC I1(V) {2.102f*(EXP(V/0.02760/EXP((TEMP) -T0)/405.3))-1)*
+ EXP((TEMP-T0)/7.850*EXP((TEMP-T0)/-601.3))}
.FUNC I2(V) {TANH(V/0.1)*( 710.4p*EXP(-V/198.3)*EXP((TEMP-T0)/54.40)+
+ 26.02f*EXP(-V/63.22/EXP((TEMP-T0)/178.9))*
+ EXP((TEMP -T0)/8.493*EXP((TEMP-T0)/-600)))}
V1 1 3 0
E1 3 4 VALUE={R1(MIN(MAX(I(V1)/0.5,-500k),500k)) }
V2 4 5 0
C1 5 2 0.5p
G1 4 2 值={0.5*(I1(MIN(MAX(V(4,2),-5k),5))+I2(MIN(MAX(V(4,2),-5k),5)) )+
+ I(V2)*(913.9*(MAX(V(4,2),0.5607)-0.5607)+
+ 727.2*(1-360.9*TANH(MIN(V(4,2),0.5607)/360.9) )/1.121)**-0.4987)}
R1 4 2 1T
.ENDS SCS205KG

正向電壓
第一個測量操作涉及 SiC 二極管的正向電壓。如圖 3所示,這是測試的簡單電路,它的 3D 表示,以及關于不同工作溫度下正向電壓的組件數(shù)據(jù)表的摘錄。

pYYBAGLeM7OAZW-VAADeFKyYLdQ502.jpg圖 3:測試 SiC 二極管正向電壓的測試示意圖

測試接線圖包含串聯(lián)的肖特基 SCS205KG SiC 二極管,其電阻約為 6.7 Ω,其大小允許 5 A 的電流通過電路。電源電壓設置為 36 V。為了更好地優(yōu)化耗散和散熱,我們使用了 10 個并聯(lián)的 67 Ω 電阻器,以模擬單個 6.7 Ω 電阻器。每個電阻的功率必須至少為 20 W。肖特基二極管 SCS205KG 的數(shù)據(jù)表確定了在各種工作溫度下組件兩端的以下電壓:

  • 如果 = 5 A,Tj = 25°C:1.4 V
  • 如果 = 5 A,Tj = 150°C:1.8 V
  • 如果 = 5 A,Tj = 175°C:1.9 V

這些特征解釋了二極管兩端的電壓如何高度依賴于其溫度。因此,設計人員必須盡量控制這種電壓波動,因為它會改變最終系統(tǒng)的行為。直流掃描模擬涉及使用 SPICE 指令在 0°C 到 200°C 的溫度范圍內(nèi)測量功率二極管兩端的電壓:

.DC 溫度 0 200 25

仿真在不同溫度下返回二極管上的以下電壓值,充分證實了數(shù)據(jù)表提供的指示。彩色單元格包含文檔中報告的測試溫度。

表 1:溫度與測量電壓

溫度 (°C)

二極管上的測量電壓

25

1.40

40

1.45

50

1.48

75

1.54

100

1.60

125

1.70

150

1.80

175

1.90

200

2.00

如圖 4所示,綠色圖表顯示二極管陽極上的 36 V 固定電壓,黃色圖表顯示陰極上的電壓,具體取決于溫度。這種電位差構(gòu)成了“正向電壓”。仍然在同一張圖中,可以觀察到組件上的電位差,這是由于陽極和陰極電壓之間的代數(shù)差。該測試只能執(zhí)行幾秒鐘。

pYYBAGLeM8GAWmCPAACP_L2wL3s316.jpg圖 4:仿真在時域測量 SiC 二極管的正向電壓。

容抗
第二個測量操作涉及 SiC 二極管的容抗。讓我們看一下圖 5,其中我們可以看到測試的簡單電路及其 3D 表示。

poYBAGLeM82ASK0gAABCE-L4rQM594.jpg圖 5:測試 SiC 二極管容抗的測試示意圖

電氣圖包含串聯(lián)連接的肖特基 SCS205KG SiC 二極管,電阻非常低,約為 0.1 Ω。還有一個與二極管并聯(lián)的第二個電阻。它的價值非常高。電源電壓是一個設置為 1 V 的正弦源。對于這個測試,我們可以執(zhí)行一個 AC 模擬,其中包括在 200 kHz 和 2 MHz 之間的頻率域中測量功率二極管的容抗,使用SPICE 指令:

.AC lin 1000 0.2Meg 2Meg

仿真(圖 6)在正弦源的不同頻率下返回不同的容抗。

poYBAGLeM9-ARp-CAAAv0Nc6Cf4595.jpg圖 6:仿真在頻域測量 SiC 二極管的容抗。二極管的行為就像一個小電容器,其容量取決于它所承受的頻率。

為了測量二極管的容抗,我們使用以下公式,如圖 7所示。它發(fā)生在頻域的交流電中:

IM(V(n002)/I(R1))

pYYBAGLeM-uACOD4AAAGYDWI5x8778.jpg

圖 7:計算二極管容抗的公式

二極管可以用一個電容器代替,以實現(xiàn)一個真實的和真實的組件來執(zhí)行另一個模擬。

反向電流
第三個測量操作涉及 SiC 二極管的反向電流。讓我們看一下圖 8,它顯示了測試的簡單電路、其 3D 表示,以及涉及不同溫度下的反向電流的組件數(shù)據(jù)表的摘錄。

poYBAGLeM_yAHNzQAACFHtCjgrw616.jpg圖 8:測試 SiC 二極管反向電流的測試示意圖

電氣圖包含串聯(lián)連接的肖特基 SCS205KG SiC 二極管,電阻非常低,約為 0.1 Ω。電源電壓是設置為 1,200 V 的正弦源。二極管以反向模式連接。對于此測試,可以執(zhí)行直流仿真(掃描),其中包括使用 SPICE 指令測量在 20°C 和 200°C 之間的溫度范圍內(nèi)流經(jīng)二極管的反向電流:

.DC 溫度 20 200 1

圖 9顯示了一個圖表,根據(jù)溫度,二極管上的反向電流很小。

pYYBAGLeNAiAJScxAABE_9qEnpE402.jpg圖 9:仿真測量溫度域上 SiC 二極管的反向電流。

圖 10(V 與 I)顯示了在 25°C 的固定溫度下,與施加到二極管的電壓相關的反向電流曲線圖,介于 0 V 和 1,200 V 之間。

poYBAGLeNBSAeQspAABcKUjHHUE346.jpg圖 10:在 25°C 溫度下,反向電流與施加到二極管的電壓的關系圖。

結(jié)論
SiC 二極管的特點是恢復時間非常快。這允許更高的開關速度和更小尺寸的磁性元件和其他無源元件。最終設備可以具有更高的功率密度。它們還為電源開關應用在效率和熱性能方面提供了顯著優(yōu)勢。這些組件可以在更高的溫度下運行。溫度是改變電子元件工作條件的重要因素。執(zhí)行真實測試(使用真實的 SiC 組件)和仿真以評估仿真器,尤其是 SPICE 模型的功效和實用性可能會很有趣。

審核編輯:湯梓紅

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