正如我們上次討論的那樣,對空間合格的組件執(zhí)行了許多篩選步驟。必須執(zhí)行這些篩選步驟,以確保設(shè)備能夠承受太空環(huán)境的嚴(yán)酷考驗(yàn)。在上一期中,我們查看了下表中以綠色突出顯示的步驟 17 到 18。在本期中,我們將在第18步進(jìn)行 A 組篩查(下表中以黃色突出顯示),并討論該特定測試組的相關(guān)項(xiàng)目。
表1
ADI標(biāo)準(zhǔn)空間液位流量
在我們深入研究 A 組測試的細(xì)節(jié)之前,讓我們先花點(diǎn)時(shí)間對 A、B、C、D 和 E 組進(jìn)行高層次的了解,并了解這些步驟的順序和一般標(biāo)準(zhǔn)。在本博客中,我們將重點(diǎn)介紹A組,這是在這些不同組中執(zhí)行的第一組測試。只有在允許使用電氣廢品的情況下,才能對單元進(jìn)行B,D,D或E組,而無需事先通過A組的所有電氣測試。在MIL-PRF-38535規(guī)范中,有一些表格定義了每個(gè)組的測試參數(shù)。該規(guī)范還指出了測試可以使用哪些單位以及測試需要執(zhí)行的頻率,如表2所示。需要對每個(gè)檢驗(yàn)批次進(jìn)行A組和B組測試。C組測試需要每3個(gè)月進(jìn)行一次,而D組測試需要每6個(gè)月進(jìn)行一次。必須在每個(gè)晶圓批次上進(jìn)行E組測試。
表2
組 A、B、C、D 和 E 組測試
A組電氣測試進(jìn)一步細(xì)分為四個(gè)不同的類別:靜態(tài),動(dòng)態(tài),功能和開關(guān)。在這些類別中,每個(gè)類別都有三個(gè)子組,分別代表在最低額定工作溫度、最高額定工作溫度和 +25°C 下的測試。 這些不同的類別代表不同類型的電氣測試。表3給出了這四個(gè)不同的類別和三個(gè)亞組。
表3
A 組電氣測試的子組
我將再次提及高速ADC,以提供A組測試的每個(gè)類別的示例。我發(fā)現(xiàn)考慮這樣的例子很有幫助,這樣就可以更好地理解 A 組測試中的各個(gè)子組。
靜電測試的一個(gè)例子是對設(shè)備的電源電流的測試。這些將包括每個(gè)電源域的信息。此外,通常給出ADC不同工作模式的電源電流??赡苡械綦姾痛龣C(jī)模式,以及啟用和/或禁用各種數(shù)字功能的不同模式。
動(dòng)態(tài)電氣測試參數(shù)是ADC積分非線性度的測試。它還將包括SNR(信噪比),SFDR(無雜散動(dòng)態(tài)范圍),ENOB(有效位數(shù))和諧波測量以及其他類似項(xiàng)目。
功能測試更像是通過或不通過測試,通常不是ADC的參考,因?yàn)榱谐龅?a target="_blank">規(guī)格在器件工作溫度范圍內(nèi)具有與之相關(guān)的某種性能范圍。此類測試的一個(gè)例子可以是檢查ADC輸出的數(shù)據(jù)是否可用于生成FFT。如果可以產(chǎn)生FFT,則測試將是一個(gè)通過,如果沒有數(shù)據(jù)輸出導(dǎo)致沒有FFT,那將是行不通的。不過,這不是可以在ADC數(shù)據(jù)手冊中列出規(guī)格的測試。
在A組電氣測試中執(zhí)行的開關(guān)測試涵蓋了與輸出數(shù)據(jù)時(shí)鐘相關(guān)的參數(shù)和高速ADC位等項(xiàng)目。對于具有使用LVDS(低壓差分信號)的數(shù)字輸出的高速ADC,這些參數(shù)將包括與輸出數(shù)據(jù)時(shí)鐘和輸出數(shù)據(jù)相關(guān)的建立和保持時(shí)間。開關(guān)測試還將包括傳播延遲,它給出了輸入時(shí)鐘邊沿與ADC輸出上轉(zhuǎn)換后數(shù)據(jù)可用性之間的時(shí)間。
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