那曲檬骨新材料有限公司

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

DTS+TCB預燒結銀焊盤工藝提高功率器件通流能力和功率循環(huán)能力

sharex ? 來源:sharex ? 作者:sharex ? 2023-07-06 14:41 ? 次閱讀

pYYBAGSmYaeAMudxAACpD8zq0gk110.png

GVF9800預燒結銀焊片

DTS+TCB預燒結銀焊盤工藝提高功率器件通流能力和功率循環(huán)能力

新能源汽車、5G通訊、光伏儲能等終端應用的發(fā)展下,SiC/GaN等第三代半導體材料水漲船高,成為時下特別火熱的發(fā)展領域之一。終端應用市場對于高效率、高功率密度、節(jié)能省耗的系統設計需求日益增強,與此同時,各國能效標準也不斷演進,在此背景下,SiC憑借耐高溫、開關更快、導熱更好、低阻抗、更穩(wěn)定等出色特性,正在不同的應用領域發(fā)光發(fā)熱。

新型SiC芯片可用IPM、TPAK方式封裝,以應用于電動車逆變器SiC導線架技術為例,導線架Copper Clip和SiC芯片連接采用燒結銀AS9385連接技術,可實現高可靠、高導電的連接的需求,很多Tier 1的控制器公司和Tier 2功率模組制造商,在汽車模組中均或多或少的采用該燒結銀技術,目前燒結銀技術主要用于對可靠性和散熱高要求的市場,在引線框架制作上除了要提供高可靠度的鍍銀品質以符合燒結銀的搭接技術以外,由于燒結銀的膜厚只有20um-50um,不像傳統的錫膏搭接方式可透過錫膏量的調整補正搭接面共平面度不佳造成的搭接問題,燒結銀的搭接技術對于搭加處的共平面度要求公差只有20um,對于這種復雜的折彎成型式技術是一大挑戰(zhàn)。

在成型技術也相當困難,由于電鍍銀是局部鍍銀,相較于全鍍,部分鍍銀技術很難,必須做模具,且放置芯片處用局部銀,一個導線架搭兩個芯片,芯片必須採局部銀,其他導線架必須用鎳鈀金,材料差異對導線架制作是很大的技術挑戰(zhàn)。

眾所周知,在單管封裝中,影響器件Rth(j-c)熱阻的主要是芯片、焊料和基板。SiC芯片材料的導熱率為370W/(m.K),遠高于IGBT的Si(124W/(m.K)),甚至超過金屬鋁(220W/(m.K)),與Lead Frame的銅(390 W/(m.K))非常接近。而一般焊料的導熱率才60 W/(m.K)左右,典型厚度在50-100um,所占整個器件內部Rth(j-c)熱阻之權重,是不言而喻的。所以,單管封裝中引入擴散焊“Diffusion Soldering”,省了芯片與lead frame之間的焊料,優(yōu)化了器件熱阻。以1200V/30mOhm的SiC MOSFET單管為例,基于GVF預燒結銀焊片工藝,相比當前焊接版的TO247-3/4L,可降低約25%的穩(wěn)態(tài)熱阻Rth(j-c),和約45%的瞬態(tài)熱阻。

目前,客戶存的最大痛點是鍵合時良率低,善仁新材推出的預燒結焊片主要優(yōu)勢是:提高芯片的通流能力和功率循環(huán)能力,保護芯片以實現高良率的銅線鍵合。

功率半導體是電子裝置中電能轉換與電路控制的核心,主要用于改變電子裝置中電壓和頻率、直流交流轉換等。可分為功率IC和功率分立器件兩大類,二者集成為功率模塊(包含MOSFET/IGBT模塊、IPM模塊、PIM模塊)。隨著電力電子模塊的功率密度、工作溫度及其對可靠性的要求越來越高,當前的封裝材料已經達到了應用極限。

善仁新材的GVF9700無壓預燒結焊盤和GVF9800有壓預燒結焊盤,為客戶帶來多重便利,包括無需印刷、點膠或干燥,GVF預燒結銀焊片工藝(DTS+TCB(Die Top System +Thick Cu Bonding)可以將銅鍵合線和燒結工藝很好結合在一起,同時具有較高的靈活性,可以同時讓多個鍵合線連接在預燒結焊盤上來進行頂部連接。

GVF預燒結銀焊片工藝(DTS+TCB(Die Top System +Thick Cu Bonding)不僅能顯著提高芯片連接的導電性、導熱性,以及芯片連接的可靠性,并對整個模塊的性能進行優(yōu)化,還能幫助客戶提高生產率,降低芯片的破損率,加速新一代電力電子模塊的上市時間。

GVF預燒結銀焊片工藝(DTS+TCB(Die Top System +Thick Cu Bonding))能夠將電力電子模塊的使用壽命延長50多倍,并確保芯片的載流容量提高50%以上。

GVF預燒結銀焊片還可以使結溫超過200°C。因此,GVF預燒結銀焊片可大幅降低功率限額,或者在確保電流相同的情況下縮小芯片尺寸,從而降低電力成本。

SHAREX的GVF預燒結銀焊片工藝(DTS+TCB(Die Top System +Thick Cu Bonding)是結合了燒結銀,銅箔和其他材料的一種復合材料,由以下四個部分組成:具有鍵合功能的銅箔;預涂布AS9385系列燒結銀;燒結前可選用臨時固定的膠粘劑;保護膜或者承載物。

GVF預燒結銀焊片工藝(DTS+TCB(Die Top System +Thick Cu Bonding)和金,銀,銅表面剪切強度都很大。

GVF預燒結銀焊片工藝(DTS+TCB(Die Top System +Thick Cu Bonding)的使用方法為:Pick & Place;

GVF預燒結銀焊片工藝(DTS+TCB(Die Top System +Thick Cu Bonding)可以廣泛用于:Die Attach, Die Top Attach, Spacer Attach等。

采用了GVF預燒結銀焊片工藝的Diffusion Soldering(擴散焊)技術。簡而言之,就是在特定溫度和壓力條件下,使得SiC芯片的背面金屬,與Lead Frame表面金屬產生原子的相互擴散,形成可靠的冶金連接,以釜底抽薪之勢,一舉省去中間焊料,所謂大道至簡、惟精惟一,惟GVF預燒結銀焊片。一言以蔽之:采用了GVF預燒結銀焊片工藝時,降低器件穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)熱阻,同時提高器件可靠性。

在能源效率新時代,SiC開始加速滲透電動汽車、光伏儲能、電動車充電樁PFC/開關電源、軌道交通、變頻器等應用場景,接下來將逐步打開更大的發(fā)展空間。

poYBAGSmYcaANHfwAAx1JpgFTyg958.png

DTS燒結銀焊片

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 芯片
    +關注

    關注

    456

    文章

    51192

    瀏覽量

    427295
  • DTS
    DTS
    +關注

    關注

    1

    文章

    50

    瀏覽量

    16162
  • 功率器件
    +關注

    關注

    41

    文章

    1797

    瀏覽量

    90643
  • 焊盤
    +關注

    關注

    6

    文章

    558

    瀏覽量

    38217
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    燒結技術助力功率半導體器件邁向高效率時代

    簡單易行以及無鉛監(jiān)管的要求。這些都對焊接材料和工藝提出了更高、更全面的可靠性要求。而燒結技術,作為一種新型的高可靠性連接技術,正在逐漸成為功率半導體
    的頭像 發(fā)表于 01-08 13:06 ?353次閱讀
    <b class='flag-5'>銀</b><b class='flag-5'>燒結</b>技術助力<b class='flag-5'>功率</b>半導體<b class='flag-5'>器件</b>邁向高效率時代

    功率器件熱設計基礎(十一)——功率半導體器件功率端子

    /前言/功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率
    的頭像 發(fā)表于 01-06 17:05 ?232次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>熱設計基礎(十一)——<b class='flag-5'>功率</b>半導體<b class='flag-5'>器件</b>的<b class='flag-5'>功率</b>端子

    功率器件封裝新突破:納米銅燒結連接技術

    隨著第三代半導體材料如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)的快速發(fā)展,功率器件的性能要求日益提高。傳統的封裝材料已無法滿足功率器件在高
    的頭像 發(fā)表于 12-07 09:58 ?542次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>封裝新突破:納米銅<b class='flag-5'>燒結</b>連接技術

    功率半導體器件功率循環(huán)測試與控制策略

    功率循環(huán)測試是一種功率半導體器件的可靠性測試方法,被列為AEC-Q101與AQG-324等車規(guī)級測試標準內的必測項目。與溫度循環(huán)測試相比,
    的頭像 發(fā)表于 10-09 18:11 ?483次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b>半導體<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>循環(huán)</b>測試與控制策略

    低溫無壓燒結在射頻通訊上的5大應用,除此之外,燒結還有哪些應用呢?歡迎補充

    **低溫無壓燒結在射頻通訊上的5大應用 SHAREX善仁新材推出在射頻通訊領域的無壓燒結系列,可以應用的領域主要體現在以下5個方面: 1 射頻元
    發(fā)表于 09-29 16:26

    pcb直徑怎么設置

    和考慮因素: 一、考慮因素 元器件引腳直徑和間距 : 直徑應稍大于元器件的引腳直徑,以便于焊接時引腳能夠穩(wěn)固地插入
    的頭像 發(fā)表于 09-02 15:15 ?1071次閱讀

    大面積燒結AS9387成為碳化硅功率器件封裝的首選

    大面積燒結AS9387成為碳化硅功率器件封裝的首選
    的頭像 發(fā)表于 08-09 18:15 ?802次閱讀
    大面積<b class='flag-5'>燒結</b><b class='flag-5'>銀</b>AS9387成為碳化硅<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>封裝的首選

    半導體IGBT采用燒結工藝(LTJT)的優(yōu)勢探討

    IGBT模塊對高可靠性的需求。在這一背景下,燒結工藝(LTJT)作為一種新型連接技術,正逐漸成為IGBT封裝領域的研究與應用熱點。
    的頭像 發(fā)表于 07-19 10:23 ?1001次閱讀
    半導體IGBT采用<b class='flag-5'>銀</b><b class='flag-5'>燒結</b><b class='flag-5'>工藝</b>(LTJT)的優(yōu)勢探討

    無壓燒結VS有壓燒結:誰更勝一籌?

    及其合金在電子、電力、航空航天等眾多領域具有廣泛應用。為了提高材料的物理和機械性能,常采用燒結工藝進行材料制備。
    的頭像 發(fā)表于 07-13 09:05 ?1843次閱讀
    無壓<b class='flag-5'>燒結</b><b class='flag-5'>銀</b>VS有壓<b class='flag-5'>燒結</b><b class='flag-5'>銀</b>:誰更勝一籌?

    燒結賦“芯”生,引領半導體革命

    GVF9880預燒結片用于碳化硅模組。
    的頭像 發(fā)表于 06-17 18:10 ?859次閱讀
    <b class='flag-5'>燒結</b><b class='flag-5'>銀</b>賦“芯”生,引領半導體革命

    150度無壓燒結用于功率器件,提升效率降低成本

    150度無壓燒結用于功率器件,提升效率降低成本 全球燒結的領導者善仁新材不斷超越自己,革新自
    的頭像 發(fā)表于 05-23 20:25 ?390次閱讀

    功率循環(huán)對IGBT 壽命的影響——準確估算功率器件的壽命

    內容摘要供應商們正在努力提高絕緣柵雙極晶體管(IGBT)、Si和SiCMOSFET以及其他功率器件的最大功率水平和電流負載能力,并同時保持高
    的頭像 發(fā)表于 04-26 08:35 ?1305次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>循環(huán)</b>對IGBT 壽命的影響——準確估算<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>的壽命

    基于低溫焊料的真空燒結工藝研究

    功率芯片載體裝配工藝中應用廣泛。傳統的手工燒結方式具有熔融時間長、生產效率低、可靠性差等缺點,通過對基于銦鉛低溫焊料的真空燒結
    的頭像 發(fā)表于 03-19 08:44 ?1005次閱讀
    基于低溫焊料的真空<b class='flag-5'>燒結</b><b class='flag-5'>工藝</b>研究

    深入探索研究SiC功率器件高效互連技術

    本文采用的DTS(DieTopSystem)技術結合了芯片雙面燒結工藝與銅線鍵合工藝,此技術能夠避免直接在芯片上進行銅線鍵合時造成的芯片損
    發(fā)表于 03-18 09:31 ?452次閱讀
    深入探索研究SiC<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>高效互連技術

    SiC功率器件先進互連工藝研究

    共讀好書 杜隆純 何勇 劉洪偉 劉曉鵬 (湖南國芯半導體科技有限公司 湖南省功率半導體創(chuàng)新中心) 摘要: 針對SiC功率器件封裝的高性能和高可靠性要求,文章研究了芯片雙面
    的頭像 發(fā)表于 03-05 08:41 ?618次閱讀
    SiC<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b>先進互連<b class='flag-5'>工藝</b>研究
    bet365 app| 电脑百家乐官网玩| 哪家百家乐官网优惠最好且信誉不错 | 百家乐高级技巧| 永春县| 菲律宾百家乐试玩| 缅甸百家乐| 杨公24山向水法吉凶断| 十三张娱乐城开户| 24山入宅择日| 足球开户网| 24山向吉凶详解视频| 娱乐城开户送真钱200| 百家乐官网平注常赢玩法技巧| 大发888下载| 百家乐官网六手变化混合赢家打| 大发888体育在线| 七胜百家乐官网赌场娱乐网规则| 大发888资讯网| 宝马百家乐官网的玩法技巧和规则| 大发888是什么游戏| 24山天机申山寅向择日| 真钱现金斗地主| 百家乐赌博规律| 百家乐官网体育博彩| 申请百家乐会员送彩金| 澳门百家乐官网现场游戏| 百家乐博彩平台| 香港六合彩信息| 都坊百家乐官网的玩法技巧和规则| 上海百家乐的玩法技巧和规则 | 百家乐官网薯片| 百家乐必知技巧| 金球国际娱乐城| 百家乐官网是娱乐场| 德州扑克 让牌| 飞天百家乐官网的玩法技巧和规则 | 百家乐官网平台信誉| 网上的百家乐是假的吗| 百家乐官网大赢家小说| 上市百家乐.评论|