ESD靜電測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

常見(jiàn)的ESD靜電測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括以下幾種：

ANSI/ESD S20.20： 這是一個(gè)綜合性的靜電控制標(biāo)準(zhǔn)，適用于電子工業(yè)。它提供了有關(guān)設(shè)備、地面、人員培訓(xùn)、工序和防護(hù)措施等方面的要求和指導(dǎo)。

IEC 61340-5系列標(biāo)準(zhǔn)： 由國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）發(fā)布的一系列標(biāo)準(zhǔn)，涵蓋了靜電控制和電阻材料方面的要求。其中最常用的標(biāo)準(zhǔn)是IEC 61340-5-1，涉及ESD控制程序、設(shè)計(jì)和檢測(cè)方法。

MIL-STD-883和MIL-STD-750：這些標(biāo)準(zhǔn)適用于美國(guó)軍事領(lǐng)域，針對(duì)集成電路的可靠性和反靜電控制進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證。

JEDEC JS-001和JEDEC JESD22：這些標(biāo)準(zhǔn)由半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)JEDEC發(fā)布，涉及電子元器件的ESD測(cè)試方法和要求。

這些標(biāo)準(zhǔn)提供了在各個(gè)行業(yè)中進(jìn)行ESD測(cè)試和防護(hù)的指導(dǎo)。根據(jù)具體需求，相關(guān)組織和行業(yè)可能會(huì)采用不同的標(biāo)準(zhǔn)，以確保產(chǎn)品和設(shè)備的靜電控制和安全性能。

esd靜電測(cè)試方法

（1）放電模式：空氣放電（AirDischarge）和接觸放電（ContactDischarge ）。

a.每點(diǎn)打十次；

b.每次放電后立刻以接地線將電荷導(dǎo)走；

c.測(cè)試電壓：±5KV、 ± 8KV和± 15KV三種電壓。（2）手機(jī)工作模式：待機(jī)模式（Standby）和通話模式（InCall）。

（3）測(cè)試電壓：

A.空氣放電（AirDischarge）需要測(cè)試±5KV、± 8KV和±15KV三種電壓。

B.接觸放電（ContactDischarge）需要測(cè)試±3KV、 ± 4KV和± 8KV三種電壓。

靜電放電現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試是設(shè)備在安裝條件下進(jìn)行的試驗(yàn)。通常是設(shè)備在現(xiàn)場(chǎng)受挫后，作為摸底，由制造商和用戶協(xié)商后進(jìn)行的試驗(yàn)。

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的布置，為了便于靜電放電槍的接地回線電纜的連接，應(yīng)將參考接地板鋪設(shè)在地面上，并保持與試品及其系統(tǒng)0.1m的距離。參考接地板的材料和厚度都與實(shí)驗(yàn)室配置的要求相同。在條件允許的情況下，接地板的尺寸為0.3m×2m.參考接地板與現(xiàn)場(chǎng)的安全地相連，或連接在試品及其系統(tǒng)的接地端子上。發(fā)生器的接地回線接在靠近試品及其系統(tǒng)放電點(diǎn)的參考接地平面上。

當(dāng)試品及其系統(tǒng)安裝在金屬桌子上時(shí)，而金屬桌子又未與現(xiàn)場(chǎng)的安全地連接時(shí)，則應(yīng)將金屬桌子通過(guò)一根兩端帶有470kΩ的電阻線接到參考接地平面上，以防止靜電積累。

靜電放電等級(jí)

標(biāo)準(zhǔn)將試驗(yàn)等級(jí)分成四級(jí)：對(duì)接觸放電分別設(shè)為2kV，4kV，6kV和8kV;對(duì)氣隙放電分別設(shè)為2kV，4kV，8kV和15kV。

試驗(yàn)等級(jí)的選擇與環(huán)境因素有關(guān)（環(huán)境越干燥，試驗(yàn)電壓等級(jí)也越高）。但對(duì)一臺(tái)具體的產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，往往已在相應(yīng)的產(chǎn)品族標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)試中給出（連同試品的合格評(píng)定準(zhǔn)則也一并給出）。

靜電放電標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)評(píng)

①標(biāo)準(zhǔn)之所以用接觸放電作為放電的首選方式，是因?yàn)榻佑|放電的不確定因素較少。

②接觸放電有著極其陡峭的上升時(shí)間，因此放電電流波形中包含了極其豐富的諧波成分，即使選擇比較低的試驗(yàn)電壓，也能取得比同樣等級(jí)中電壓較高的氣隙放電有更加嚴(yán)格的測(cè)試結(jié)果。

編輯：黃飛