用于測量高功率激光二極管、LED、光纖和其他高強度光源等發光元件的光強度與輸出角度之間的關系,特別適合半導體激光的光束測量
遠場測量儀器是一種獨立設備,用于測量高功率激光二極管、LED、光纖和其他高強度光源等發光元件的光強度與輸出角度之間的關系。旨在滿足對發光元件光束質量分析和測試的日益增長的需求。該遠場掃描儀具有廣泛的操作和測量范圍,而且并不犧牲速度性能——典型的測量周期僅需幾秒,非常適合發光元件的生產測試。
遠場測量儀器是一種獨立設備,用于測量高功率激光二極管、LED、光纖和其他高強度光源等發光元件的光強度與輸出角度之間的關系。其亮點為:
寬波長范圍
帶有角度測量裝置的設計
快速掃描速度
高采樣分辨率
SFC系列遠場掃描儀旨在滿足對發光元件光束質量分析和測試的日益增長的需求。該遠場掃描儀具有廣泛的操作和測量范圍,而且并不犧牲速度性能——典型的測量周期僅需幾秒,非常適合發光元件的生產測試。其應用領域為:
光功率分布
遠場及數值孔徑(NA)分析測量
光源的質量控制
軟件功能
輕松設置掃描參數
自動存檔結果
提供高級繪圖功能:1D/2D/3D及等高線/極坐標圖
數據導出到多種文件格式,如CSV、PDF、PNG、PS、XML等
對結果進行數值分析
可定制以滿足客戶需求
可集成到自動化測量系統中
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原文標題:新款需要提醒,新款如期而至,簡約不簡單之激光光束3D測量分析儀
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