*本文作者:David Schnaufer,Qorvo技術(shù)營銷傳播經(jīng)理
每隔一段時間便會偶爾出現(xiàn)全新的半導(dǎo)體開關(guān)技術(shù);當(dāng)這些技術(shù)進(jìn)入市場時,便會產(chǎn)生巨大的影響。使用碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等寬帶隙材料的器件技術(shù)無疑已經(jīng)做到了這一點(diǎn)。與傳統(tǒng)硅基產(chǎn)品相比,這些寬帶隙技術(shù)材料在提升功率轉(zhuǎn)換效率和縮減尺寸方面都有了質(zhì)的飛躍。
憑借SiC在縮減尺寸方面的全新能力,Qorvo的SiC FET技術(shù)用于采用TO-Leadless(TOLL)封裝的750V器件開發(fā),并擴(kuò)大了其領(lǐng)先優(yōu)勢。那么,如此小巧的TOLL封裝能帶來什么?這正是我們下面要深入探討的問題。
封裝因素 與TO-247和D2PAK相比,TOLL封裝的體積縮小了30%,高度降低了一半,僅為2.3毫米。因此,就尺寸而言,其顯著優(yōu)于TO-247和D2PAK標(biāo)準(zhǔn)封裝。除了這些品質(zhì)外,Qorvo的SiC-FET還為客戶的整體最終設(shè)計提供了其它關(guān)鍵因素。下面我們將對此做簡要介紹。 權(quán)衡考慮 與任何半導(dǎo)體技術(shù)一樣,設(shè)計工程師在創(chuàng)建應(yīng)用時必須對參數(shù)的權(quán)衡加以考慮。任何設(shè)計工程師所能期望的最好結(jié)果就是找到一個最佳的中間地帶。事實(shí)上,Qorvo的SiC-FET具有業(yè)內(nèi)最低的 RDS(ON)。更低的RDS(ON)允許使用較小的封裝獲得較高的額定電流。因此,通過減小尺寸,我們可以在TOLL封裝內(nèi)放置一個750V SiC-FET。 RDS(ON)與效率的關(guān)系:-
所有FET在傳導(dǎo)過程中都會產(chǎn)生一定的功率損耗。傳導(dǎo)中的功率損耗與額定RDS(ON)值成正比;這種損耗等效于系統(tǒng)效率的下降。通常情況下,要達(dá)到較低的RDS(ON),就需要增大FET的尺寸;然而,這就相當(dāng)于在降低傳導(dǎo)損耗的同時,增大了半導(dǎo)體尺寸(見下圖1)。而增大FET尺寸便意味著增加了成本和開關(guān)損耗。顯然,成本和RDS(ON)之間存在著折衷。就Qorvo的SiC-FET而言,由于元件的整體尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于競爭對手SiC、硅或GaN功率技術(shù)產(chǎn)品,因而能夠?qū)⑦@種折衷降至最低(見圖3 左圖)。
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如上圖所示,不僅在RDS(ON)和尺寸間存在權(quán)衡取舍,開關(guān)能量和RDS(ON)之間也是如此。隨著器件RDS(ON)的增加,開關(guān)能量(Eon和Eoff)也會增加;也就是說,當(dāng)RDS(ON)和傳導(dǎo)損耗走向更低的方向,Eon和Eoff開關(guān)損耗也會增加。在電動車DC/DC轉(zhuǎn)換器或功率因數(shù)校正(PFC)解決方案等硬開關(guān)應(yīng)用中,這兩個參數(shù)間的權(quán)衡帶來更大的挑戰(zhàn)。但最終,通過平衡這兩個參數(shù),可以實(shí)現(xiàn)優(yōu)化的結(jié)果。將Qorvo的SiC-FET與其它電源技術(shù)進(jìn)行比較,可以發(fā)現(xiàn)兩者的競爭優(yōu)勢基本相當(dāng)。
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在電動車用DC/DC轉(zhuǎn)換器等軟開關(guān)應(yīng)用中,RDS(ON)與Coss(tr)或FET輸出電容(tr-表示與時間相關(guān))間需進(jìn)行權(quán)衡(參見下圖);器件 RDS(ON)越低,Coss(tr)越大。在軟開關(guān)應(yīng)用中,Coss(tr)是決定FET工作頻率的關(guān)鍵因素。輸出電容越小,工作頻率就越高。在軟開關(guān)應(yīng)用中,則要在這兩個參數(shù)間做出選擇,以確保系統(tǒng)達(dá)到最佳工作頻率。也就是說,如圖 3 右側(cè)所示,Qorvo的SiC-FET技術(shù)在給定Coss(tr)的情況下具有更低的總RDS(ON),使得Qorvo的SiC-FET技術(shù)在許多軟開關(guān)應(yīng)用中更具優(yōu)勢。
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原文標(biāo)題:以更小封裝實(shí)現(xiàn)更大開關(guān)功率,Qorvo SiC FET如何做到的?
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