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開關(guān)電源性能測(cè)試之過(guò)流保護(hù)測(cè)試方法

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-10-11 14:26 ? 次閱讀

一個(gè)好的開關(guān)電源必定有良好的過(guò)流保護(hù)功能,當(dāng)電流超過(guò)預(yù)定最大值時(shí),過(guò)流保護(hù)功能會(huì)起作用,保護(hù)開關(guān)電源和連接設(shè)備不受損壞。用開關(guān)電源測(cè)試軟件對(duì)電源過(guò)流保護(hù)功能進(jìn)行測(cè)試,不僅可以提高測(cè)試效率,還支持?jǐn)?shù)據(jù)智能分析,生成數(shù)據(jù)報(bào)告,為開關(guān)電源研發(fā)設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支撐。

開關(guān)電源過(guò)流保護(hù)測(cè)試的原理和目的

目的:測(cè)試S.M.P.S. 輸出電流過(guò)高時(shí)是否正常保護(hù), 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi), 以及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷。

原理:一般來(lái)說(shuō)開關(guān)電源是通過(guò)電子保險(xiǎn)絲或者電子隔離器來(lái)實(shí)現(xiàn)過(guò)流保護(hù)功能的。當(dāng)輸出電流過(guò)大時(shí),電子保險(xiǎn)絲或電子隔離器會(huì)自動(dòng)斷開電路,對(duì)開關(guān)電源進(jìn)行保護(hù),防止電源以及設(shè)備受損。

如何測(cè)試開關(guān)電源過(guò)流保護(hù)?

測(cè)試過(guò)流保護(hù)時(shí)需要一臺(tái)交流電源、電子負(fù)載和示波器。依據(jù)SPEC.規(guī)定輸入電壓AC LINE和電子負(fù)載,按照下面方法進(jìn)行測(cè)試:

1.將待測(cè)組輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD;

2.以一定的斜率(通常為1.0A/S) 遞增, 加大輸出電流直至電源保護(hù), 當(dāng)保護(hù)后, 將所加大之電流值遞減, 視其輸出是否會(huì)自動(dòng)RECOVERY;

3.OSCILLOSCOPE CH2 接上CURRENT PROBE, 以PROBE 檢測(cè)輸出電流;

4.CH1 則接到待測(cè)輸出電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE;

5.TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"-", TRIGGER MODE 設(shè)定為"AUTO", TIME/DIV 視情況而定。

通過(guò)示波器查看其波形,判斷能否保護(hù),并通過(guò)讀取數(shù)值判斷保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi)。

開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)ate解決測(cè)試痛點(diǎn)

1. 過(guò)流保護(hù)測(cè)試循環(huán)次數(shù)多,手動(dòng)測(cè)試速度慢,繁瑣復(fù)雜,效率低下

開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)ate采取無(wú)編程模式,已對(duì)過(guò)流保護(hù)測(cè)試的程序進(jìn)行指令封裝,只需要拖拽指令便可快速完成測(cè)試流程搭建,在運(yùn)行界面一鍵運(yùn)行便可完成測(cè)試。針對(duì)于多次循壞需求而言,該軟件可以輕松滿足需求,提高測(cè)試效率。

2. 傳統(tǒng)測(cè)試需要人工分析數(shù)據(jù),手動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù),可能會(huì)出現(xiàn)記錄誤差

自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試后,會(huì)自動(dòng)采集、匯總、管理數(shù)據(jù),內(nèi)含的數(shù)據(jù)洞察功能會(huì)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析,并將數(shù)據(jù)以圖表形式展示,數(shù)據(jù)結(jié)果直觀可見。此外,該軟件還支持自定義數(shù)據(jù)報(bào)告,可以修改。數(shù)據(jù)報(bào)告模板多樣,可供用戶自由選擇,數(shù)據(jù)報(bào)告也可一鍵導(dǎo)出,word,excel格式都支持。

ATECLOUD-POWER是納米軟件研發(fā)的一款電源模塊測(cè)試系統(tǒng),針對(duì)各類電源模塊測(cè)試提供軟硬件解決方案,解決測(cè)試難點(diǎn),助力企業(yè)實(shí)現(xiàn)數(shù)字化,提升核心競(jìng)爭(zhēng)力。

審核編輯 黃宇

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