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碳化硅晶體的生長原理

半導體封裝工程師之家 ? 2024-08-03 18:01 ? 次閱讀

碳化硅晶體的生長原理

在自然界中,晶體不勝枚舉,其分布及應用都十分廣泛。例如日常生活中隨處可見的鹽、糖、鉆石、雪花都是晶體;此外,半導體晶體、激光晶體、閃爍晶體、超硬晶體等晶體材料在工業、醫療、半導體及眾多科研領域也發揮著重要的作用。

不同晶體材料之間的結構、性能以及制備方法不盡相同,但其共通特點是晶體中的原子排列規則有序,在三維空間中通過周期性堆垛,組成特定結構的晶格,因此晶體材料的外觀通常會呈現出整齊規則的幾何形狀。

碳化硅單晶襯底材料(Silicon Carbide Single Crystal Substrate Materials,以下簡稱SiC襯底)也是晶體材料的一種,屬于寬禁帶半導體材料,具有耐高壓、耐高溫、高頻、低損耗等優勢,是制備大功率電力電子器件以及微波射頻器件的基礎性材料。

SiC的晶體結構

SiC單晶是由Si和C兩種元素按照1:1化學計量比組成的Ⅳ-Ⅳ族化合物半導體材料,硬度僅次于金剛石。

C原子和Si原子都有4個價電子,可以形成4個共價鍵,組成SiC基本結構單元——Si-C四面體,Si原子和C原子的配位數都是4,即每個C原子周圍都有4個Si原子,每個Si原子周圍都有4個C原子。

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SiC襯底作為一種晶體材料,也具有原子層周期性堆垛的特性。Si-C雙原子層沿著[0001]方向進行堆垛,由于層與層之間的鍵能差異小,原子層之間容易產生不同的連接方式,這就導致SiC具有較多種類的晶型。常見晶型有2H-SiC、3C-SiC、4H-SiC、6H-SiC、15R-SiC等,其中,按照“ABCB”順序進行堆垛的結構稱為4H晶型。雖然不同晶型的SiC晶體具有相同的化學成分,但是它們的物理性質,特別是禁帶寬度、載流子遷移率等特性有較大的差別。其中,4H晶型各方面的性能更適合半導體領域的應用。

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生長溫度、壓力等多種因素都會影響SiC襯底的晶型穩定性,因此想要獲得高質量、晶型均一的單晶材料,在制備過程中必須精確控制如生長溫度、生長壓力、生長速度等多種工藝參數

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