EMI輻射近場測試是一種相對量測試,它可以把被測件的測試結(jié)果與基準(zhǔn)件的測試結(jié)果進(jìn)行比較,以預(yù)測被測件通過一致性測試的可能性,并且通過探頭的檢測能快速精準(zhǔn)的告訴工程師,嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于 USB、LAN 之類的通信接口,還是來自殼體的縫隙,或來自連接的電纜乃至電源線,幫助工程師查找和定位輻射源位置和傳播路徑,及評估整改后的效果。
因此,「世強(qiáng)&Keysight」開放實驗室也針對EMI預(yù)兼容(輻射)近場測量提供了N9000B+N6141C+近場探頭,幫助工程師對你設(shè)計執(zhí)行預(yù)兼容測量和診斷評測。具體包括:
頻率掃描
使用△至極限值的傳導(dǎo)發(fā)射與掃描表
使用儀表進(jìn)行的輻射掃描
使用條形圖查看隨時間變化的信號
條形圖
報告生成
分辨率帶寬與FFT采集帶寬的對比
簡化和自動執(zhí)行數(shù)據(jù)收集、分析和報告生成,更高效地完成單擊測量
檢測頻譜發(fā)現(xiàn)峰值發(fā)射的頻率
利用APD功能為未來應(yīng)用做好準(zhǔn)備
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原文標(biāo)題:「世強(qiáng)&Keysight」開放實驗室介紹第三彈:EMI預(yù)兼容(輻射)近場測量方案
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