網絡測試 NetWork 分析儀
2024-03-14 22:30:52
用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件
2024-03-13 10:10:32
的移相特性非常重要,并且在電子電路中有許多實際應用。 首先,我們來觀察和分析RC電路的移相特性。為了用于觀測和分析移相特性,我們可以通過輸入一個正弦信號來激勵RC電路。正弦信號是一種周期性變化的信號,通常用于分析系統的頻率響應。在
2024-03-09 14:07:49308 2024年3月6日,日立高新技術集團旗下的日立分析儀器有限公司(以下簡稱為“日立分析儀器”)推出了可在NEXTA DSC系列熱分析儀上使用的偏光顯微鏡配件。
2024-03-06 14:00:06143 【設備應用】
SEM是掃描電子顯微鏡,用二次電子成像的原理來觀察某種物質的微觀形貌。EDS是能譜儀,是每種元素對應的電子能不同,來鑒別元素,通常與SEM結合使用,也就是說在SEM上安裝EDS附件,在
2024-03-01 18:59:58
在芯片制造領域,透射電鏡TEM技術發揮著至關重要的作用。通過TEM測試,科學家可以觀察芯片中晶體結構的變化,分析晶體缺陷,研究材料界面結構,從而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13134 作為一款強大的多物理場仿真軟件,為超材料和超表面的研究提供了強大的仿真工具。本文將重點介紹COMSOL Multiphysics在周期性超表面透射反射分析中的應用,以期為相關領域的研究提供
2024-02-20 09:20:23
光學3D表面輪廓儀(白光干涉儀)利用白光干涉原理,以0.1nm分辨率精準捕捉物體的表面細節,實現三維顯微成像測量,被廣泛應用于材料學領域的研究和應用。了解工作原理與技術材料學領域中的光學3D表面
2024-02-20 09:10:090 光學3D表面輪廓儀利用白光干涉原理,以0.1nm分辨率精準捕捉物體表面細節,實現三維顯微成像測量。廣泛應用于材料學領域,可測量各種材料表面形貌,提高超光滑表面形貌的測試精度。
2024-02-19 13:47:01237 共聚焦顯微鏡在材料學領域應用廣泛,通過超高分辨率的三維顯微成像測量,可清晰觀察材料的表面形貌、表層結構和納米尺度的缺陷,有助于理解材料的微觀特性和材料工程設計。
2024-02-18 10:53:13224 掃描電鏡按構造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細物質構造,次要用于察看固體外表的形貌,也能與
2024-02-01 18:22:15603 基于 蔡司 全系列電子顯微鏡的原位液體電化學顯微解決方案具有在真實液氛下的高分辨成像、多模態全面表征以及靈活擴展的創新優勢。本期分享液氛SEM的原位多模態分析方法,以及高分辨成像的全新案例。 創新
2024-01-30 14:22:07137 陽一科技體視顯微鏡也稱解刨顯微鏡,是微量物證檢驗常用的儀器。主要用于痕跡檢驗、文件檢驗中的細小物證,如指紋、工具、文字的顯微觀察和分析檢驗。體視顯微鏡主要操作有:調焦,視度調節,瞳距調節和燈泡更換
2024-01-26 08:35:32291 1月20日,廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志,造大國電鏡”新品發布會,正式發布首臺國產商業場發射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標志著我國已掌握透射電鏡整機研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280 原理。在顯微鏡的幫助下,可以放大被測物體的面積和形狀,使其更容易被觀察和測量。這種技術的應用范圍非常廣泛,涵蓋了諸多領域。在先進制造業中,不管是零件尺寸的測量還是表面質量
2024-01-23 09:37:170 。 1月20日,首臺國產商業場發射透射電子顯微鏡TH-F120在廣州市黃埔區正式發布。該透射電鏡由生物島實驗室領銜研制,擁有自主知識產權,將打破國內透射電鏡100%依賴進口的局面,標志著我國已掌握透射電鏡用的電子槍等核心技術,并具備量產透射電鏡
2024-01-22 09:54:52127 等問題,無法滿足精細材料表面的檢測需求。而激光共聚焦顯微鏡以其高分辨率、高靈敏度和高測量速度等優勢,成為材料表面粗糙度檢測的得力工具。為什么要選擇共聚焦顯微鏡測粗糙度?激光共聚焦顯微鏡作為一種高分辨顯微鏡,能
2024-01-18 10:53:420 顯微鏡利用可見光成像。因為電子的波長比光的波長小得多,所以電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高。 掃描電子顯微鏡(SEM),簡稱掃描電子顯微鏡,已成為一種功能強大、用途廣泛的材料表征工具,廣泛應用于材料、冶金、礦產、
2024-01-17 09:39:56144 激光共聚焦顯微鏡因其高分辨率、高靈敏度和高測量速度,成為材料表面粗糙度檢測的理想工具。它可解決傳統方法的局限,如對微小結構或曲面表面的測量問題,并適用于多種材料。該顯微鏡能獲取三維形貌信息,為粗糙度評價提供全面數據支持。
2024-01-15 09:05:39291 中圖儀器VT6000系列材料激光共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。它以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像
2024-01-12 11:35:10
由于電子在空氣中行進的速度很慢,所以必須由真空系統保持電鏡的真空度,否則,空氣中的分子會阻撓電子束的發射而不能成像。用兩種類型的真空泵串連起來獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空,當電子顯微鏡啟動時,第一
2024-01-09 11:18:33165 數字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況,圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況;圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 ?? ?SEM掃描電子顯微鏡場發射電子槍與鎢絲電子槍的區別 相同點 ? ? ? ?它們都是電子槍,也就是發射電子的裝置。它們有陰極和陽極。陰極都是點源發射體。陰極和陽極之間有一個直流高壓電場。高電壓
2024-01-04 16:46:25362 中圖儀器VT6000系列3D共聚焦形貌顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深
2024-01-03 10:05:05
薄TEM薄片+TEM觀察分析對于芯片膜層很薄的結構層,一般是幾個納米的芯片膜厚,透射電鏡TEM分辨率比SEM高,透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多,可以達到0.1~0.2nm,放大倍數為幾萬
2024-01-02 17:08:51
掃描電子顯微鏡(SEM)已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中,我們在對半導體材料和結構進行觀測時,常常會遇到充電效應,本文討論了與樣品充電相關的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12462 了小批試產階段,這標志著國產首臺200kV透射電子顯微鏡取得重大突破。透射電子顯微鏡被列為受限制的“35項關鍵技術”之一,是半導體、生命科學、材料科學等領域不可或缺的高端科學儀器,國內市場需求巨大,但長期以來全部依賴進口,因此國產
2023-12-28 11:24:09766 共聚焦顯微鏡可以在非常小的區域內進行高分辨率成像,用途廣泛。特別在材料科學研究中,適合用于觀察材料的表面形貌結構。中圖共聚焦顯微鏡以針孔共聚焦技術為原理,廣泛用于半導體制造及封裝工藝檢測中,對大傾角的產品有更好的成像效果,在滿足精度情況下使用場景更具有兼容性。
2023-12-26 11:48:15161 如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號? 頻譜分析儀是一種廣泛應用于電子領域的儀器,用于觀察和分析信號的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測和排除信號中的雜散信號,確保設備的正常工作和無干擾的信號傳輸
2023-12-21 15:37:16592 同步熱分析儀是一種在材料科學、化學、物理等領域廣泛應用的實驗設備。它結合了熱重分析(TGA)和差熱分析(DSC)兩種技術,能夠同時測量樣品的質量和熱量變化,提供關于樣品熱性質和化學反應的豐富信息
2023-12-20 13:56:39215 在低溫電子顯微鏡中,100千電子伏至300千電子伏之間的電子束穿過樣品——一組分離并固定在厚度不到60納米的超薄冰層中的單分子(平均直徑為5至40納米)。
2023-12-19 17:11:00416 ? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結構,是材料相關工作者和學者研究的有力工具之一。其應用范圍非常廣泛,甚至可以延伸到生物、醫療和工業領域。本文將對掃描電子顯微
2023-12-19 15:31:37507 透射電子顯微鏡(TEM)具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力,可用于先進半導體技術中亞納米尺寸器件特征的計量和材料表征,比如評估界面細節、器件結構尺寸以及制造過程中出現的缺陷或瑕疵。
2023-12-18 11:23:58771 本文介紹了一種飛米級電子顯微鏡的原理,未來這種技術有望用于探測遠離穩定谷的核。
2023-12-13 15:59:12221 紅外發射電路是紅外通信系統中的重要組成部分,其主要功能是產生和發射紅外信號。本文將詳細分析紅外發射電路的功能,包括其工作原理、主要組成部分、性能指標以及應用場景。 一、紅外發射電路的工作原理 紅外
2023-12-13 11:02:11409 共聚焦顯微鏡能夠觀察材料表面和內部的微觀結構,在半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等領域中,共聚焦顯微鏡能夠對面形輪廓、表面缺陷
2023-12-12 09:47:50356 共聚焦顯微鏡其尖端的傾角形貌測量功能能清晰呈現復雜結構的細節,在形貌測量方面具有顯著優勢。在微納檢測領域,共聚焦顯微鏡具有的納米級別縱向分辨能力,在相同物鏡放大的條件下橫向分辨率更高,能夠清晰地展示
2023-11-29 10:01:430 借助先進的Docker安全管理工具,企業組織可以自動掃描Docker鏡像并查找安全漏洞,發現其中已過時的軟件包或已知的安全漏洞;此外,這些工具還可以有效幫助安全人員分析Docker鏡像的內容
2023-11-27 16:12:49186 掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統,可針對無機材料和部分有機材料,迅速提供在統計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數據,在采礦業,可用于礦產勘查、礦石表征和選礦工藝優化
2023-11-21 13:16:41235 掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統,可針對無機材料和部分有機材料,迅速提供在統計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數據,在采礦業,可用于礦產勘查、礦石表征和選礦工藝優化
2023-11-21 13:02:19458 EBSD技術是一種常用的材料顯微技術,全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結構和晶粒取向等特征。與傳統的掃描電鏡技術相比,EBSD技術具有更高的空間分辨率,可以獲得亞微米級的晶體學數據。
2023-11-16 13:31:48366 最近收到老師同學們的許多問題,其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯類型(螺位錯、刃位錯、混合位錯)”。在此,為了能快速理解并分析,我整理了三個問題,希望能幫助到大家,以下見解如有錯誤,請大家批評指正。
2023-11-13 14:37:25634 11月7日,國儀電鏡論壇暨安徽大學先進功能材料分析測試技術交流會在安徽大學磬苑校區成功舉行,來自周邊地區高校的80多位領域內師生參與了本次會議,深入探討先進功能材料的分析測試技術與電子顯微鏡在研究
2023-11-10 08:24:59618 如今,不僅有能放大幾千倍的光學顯微鏡,也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡,讓我們對生物體的生命活動規律有了更深入的了解。普通中學生物教學大綱中規定的實驗絕大部分都是利用顯微鏡來完成的,因此顯微鏡的性能是觀察好實驗的關鍵。
2023-11-07 15:23:26797 激光共聚焦顯微鏡等,以獲得更全面的形貌信息。(激光共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理,更容易測陡峭邊緣,擅長微納級粗糙輪廓的檢測,雖在檢測分辨率上略遜,但成像圖色彩斑斕,便于觀察。)
2023-11-06 14:27:48
鎢絲掃描電子顯微鏡的總發射電流和光斑大,抗干擾能力和穩定性好??稍诘驼婵障虏怀潆妼Ψ菍щ姌悠愤M行成像,并可用于形貌觀察、微觀結構分析,以及斷口形貌分析。分析,在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學
2023-11-06 13:52:52176 電子發燒友網站提供《光伏接線盒材料分析.ppt》資料免費下載
2023-11-02 10:20:061 鎢絲掃描電子顯微鏡的發射電流和光斑都比較適中,抗干擾能力和穩定性比較好。可在低真空下對非導電樣品進行成像,并可用于形貌觀察、微觀結構分析,以及斷口形貌分析。分析,在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學
2023-10-31 15:17:52249 透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣,這兩種像分別為不同電子成像,前者是透射電子成像,后者為散射電子成像。
2023-10-31 14:53:50677 美國Sigmadyne公司的SigFit軟件是光機熱耦合分析工具,可以將有限元分析得到的光學表面變形等結果文件通過多項式擬合或插值轉化為光學分析軟件的輸入文件,還可實現動態響應分析、光程差分析
2023-10-24 14:57:45263 普通熱發射掃描電子顯微鏡相比,場發射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑,即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區形貌分析的首選。 2. 文書組成 場發射掃描電子顯微鏡由場發射電子槍、電子束推進器、聚光透
2023-10-23 14:56:393838 掃描電子顯微鏡是一種電子光學儀器,廣泛應用于化學、生物、醫藥、冶金、材料、半導體制造、微電路檢測等領域。自20世紀60年代以來,掃描電子顯微鏡一直被用作一種工具。商用電子顯微鏡問世以來,發展迅速
2023-10-19 15:38:30357 使用,使用機器學習(ML)算法從掃描電子顯微鏡( SEM )和透射電子顯微鏡(TEM)數據中提取和分析輪廓,從而減少工程師的手動測量任務。 工藝技術變得越來越復雜 現代芯片制造技術的研發成本高達數十億美元,而且越來越復雜和昂貴:公司需要進行研究以發現適合其需
2023-10-13 15:26:17530 共聚焦光學系統為基礎,結合高穩定性結構設計和3D重建算法共同組成測量系統,能用于各種精密器件及材料表面的非接觸式微納米測量。能測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深
2023-10-11 14:37:46
透射電子顯微鏡圖像的襯度來源于樣品對入射電子束的散射。電子波在穿過樣品時振幅和相位會發生變化,這兩種變化都會引起圖像襯度。因此,在TEM觀察中對振幅襯度和相位襯度進行區分尤為重要。
2023-10-10 09:26:52502 SuperViewW系列白光干涉顯微形貌儀是以白光干涉技術原理,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,是一款用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級測量儀器。產品簡介
2023-09-26 14:12:49
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發射掃描電子顯微鏡,可為客戶呈現任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節信息;尤其在低的加速電壓下,可在避免樣品損傷的同時,快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375 掃描透射電子顯微鏡(Scanning Transmission Electron Microscope,簡稱STEM),是在TEM成像技術上發展起來的一種電子顯微成像技術
2023-09-19 11:24:512514 表面貼裝技術中的鋼網設計是決定焊膏沉積量的關鍵因素,而再流焊后形成的焊點形貌與鋼網的開口設計有著千絲萬縷的聯系。從SMT錫膏印刷工藝的理論基礎出發,結合實際PCB(印制線路板)上錫膏印刷量,針對在不同線寬的高速信號線衍生形成的焊盤上印刷不同體積的錫膏量,論證再流焊后形成的焊點形貌。
2023-09-12 10:29:03383 功率放大器在掃描顯微鏡中起到了至關重要的作用。掃描顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術,它能夠以極高的精度觀察和研究樣品的表面形貌和結構特征。而功率放大器則能夠提供所需的信號增益,使得掃描顯微鏡能夠獲得
2023-09-07 18:28:23209 聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統 FIB-SEM應用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像(SEM-ECCI)是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展已經取代了透射電子顯微鏡(TEM)在缺陷表征領域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM),是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角
2023-08-29 14:54:151371 能譜儀(EDS)是一種快速分析樣品微區內元素種類及含量的重要工具,通常與掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)組合使用,實現形貌與成分的對照。它的工作原理是:當電子束掃描樣品時,不同元素被激發出來的x射線能量不同,通過探測這些特征X射線的能量與強度,可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241952 白光干涉儀是一種常見的測量設備,它能夠利用不同的光束干涉原理來觀察和測量顯微形貌。當白色光經過分束鏡分成兩束光線,這些光線在目標物體上反射后重新合并。這樣,生成的光束會發生干涉,由此產生一系列明暗相間的干涉條紋。這些條紋的形狀和間距與目標物體的表面形貌直接相關。
2023-08-23 10:35:21441 。**配備高靈敏度的光電二極管探測器,使得激光共聚焦顯微鏡能夠快速并精確地檢測光信號,并將其轉換為電信號。
與傳統的光學觀察不同,光電二極管探測器可以實現單個光子的檢測,使得成像更加敏感和準確。這種
2023-08-22 15:19:49
,為電池研發提供有價值的數據。然而,受可見光波長的限制,它的觀察范圍有限,而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的電子顯微鏡,利用電子束將物體放大300萬倍,達到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高,在電池研發
2023-08-22 13:41:06323 的臺階高度測量;
5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;
6、微電子表面分析和MEMS表征。
總之,白光干涉儀并非只能測量同質材料。盡管在非同質材料的測量中需要更多的校準和計算,但通過精確的技術和分析方法,它仍然可以提供準確、詳細而可靠的測量結果,幫助我們深入研究材料的特性和性能。
2023-08-21 13:46:12
,受可見光波長的限制,它的觀察范圍有限,而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的蔡司電子顯微鏡,利用電子束將物體放大300萬倍,達到奈米分辨率。由于蔡司電子顯微鏡的分辨率更高,在電池研發中,用不同的探針,可獲得
2023-08-16 14:03:49225 。對于此類場景,常規掃描電鏡效率嚴重不足,為解決客戶痛點,國儀量子于近日推出一款專為大規模成像而生的新產品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000?!备咚賿呙?b class="flag-6" style="color: red">電子顯微
2023-08-09 08:29:23453 蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質、物理、化工、農醫、公安、食品和輕工等領域的科學研究,人們總是關心微觀形態、晶體結構和化學組成與宏觀物理或化學性質之間的關系。光學顯微系統
2023-08-08 15:50:351419 本材料的預期受眾是任何級別的系統設計師,或任何其他具有對深入了解如何選擇單個IP并將其組合成自定義SoC.功率、性能和面積(PPA)分析收集與以下各項相關的數據三個類別。除了成本之外,通常還需要
2023-08-08 06:20:44
隨著超精密加工技術的不斷進步,各種微納結構元件廣泛應用于超材料、微電子、航空航天、環境能源、生物技術等領域。其中超精密3D顯微測量技術是提升微納制造技術發展水平的關鍵,中圖儀器自主研發的白光干涉掃描
2023-08-04 16:12:06
雖然還有其他研究石墨烯瑕疵的方法,但這些方法都有缺點。例如,拉曼光譜無法區分某些缺陷類型,而高分辨率透射電子顯微鏡能以出色的分辨率表征晶體結構缺陷,但其使用的高能電子會使晶格退化。
2023-08-03 15:10:08391 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)是一種用于觀察樣品內部結構的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像,然后通過對該圖像進行解釋
2023-08-01 10:02:152341 pyverilog是一個非常強大的verilog分析工具,本節介紹pyverilog的使用
2023-07-26 17:04:441357 蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠對各種材質的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結構進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現樣品表面微觀區域內的成分和織構分析
2023-07-26 10:48:06650 波長微分干涉(DIC)顯微鏡采用緊湊穩定的高剛性主體,滿足顯微操作的防震要求;模塊化功能設計理念,方便系統升級,導柱升降裝置,可快速調整工作臺與物鏡之間的距離,適用于不同厚度工件檢測,搭載機械移動式載物平臺,有效定位工件,適合于顯微觀察或多試樣快速檢測。人機工程學理想設計,操作更方便舒適,空間更廣闊。
2023-07-25 10:59:47525 引言綜合熱分析儀是一種多功能的熱學測量儀器,能夠同時測量樣品的多種熱學性能和物理性質。它在材料科學、化學、冶金、生物醫學等領域中具有廣泛的應用,為研究材料的性能和反應過程提供了強有力的支持。本文
2023-07-14 16:02:48362 、電子順磁共振波譜儀、掃描電子顯微鏡、氣體吸附分析儀、量子測控等系列產品參展。誠邀您作為我司特邀觀眾蒞臨參觀!國儀量子展位號:2.2B301深耕產業,多領域解決方案報告會議期
2023-07-06 10:03:56316 Veritas系列保持EMVeritas系列保持EM科特(EmCrafts)電子顯微鏡的高性能高效率,大樣品倉內含5軸共心電動樣品臺,可更輕松地測量大尺寸樣品??铺兀‥mCrafts)電子顯微
2023-07-05 15:13:38270 這是Amanda王莉第55篇文章,點這里關注我,記得標星在當今世界,SEM掃描電子顯微鏡分析技術,一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段,主要應用在半導體、材料科學、生命科學和納米材料
2023-07-05 10:04:061995 掃描隧道顯微鏡STM 掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有
2023-07-04 13:12:051129 共聚焦顯微鏡的系統點擴散函數分布等于物鏡和點像能量分布的卷積。在物鏡相同的情況下,其橫向分辨率(x-y面)比傳統光學顯微鏡提高了1.4倍,達到0.4λ/NA,如中圖儀器的VT6000材料共聚焦顯微
2023-06-20 10:19:29
產品介紹—— 普密斯PMS-TM200是一種新型的數字測量顯微鏡.結合了金相顯微鏡的高倍觀察能力,和影像測量儀的X、Y、Z軸表面尺寸測量功能,具備明暗場、微分干涉、偏光等多種
2023-05-31 15:19:59
產品介紹—— 3D視頻顯微鏡有多種3D觀察角度:30°,35°,40°,45°,直流伺服馬達驅動3D轉換鏡圍繞式樣進行360°旋轉,實時將圖像傳導在高清顯示器上在線觀察。 3D視頻顯微
2023-05-31 15:16:47
透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微
2023-05-31 09:20:40782 以共聚焦技術為原理的激光共聚焦顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。VT6000激光共聚焦顯微鏡材料科學的目標是研究材料表面結構對于其表面特性的影響。因此,高分辨率分析
2023-05-26 14:43:421229 在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。與傳統光學顯微鏡相比,它具有更高
2023-05-25 11:27:02
顯微光譜測試系統 1.輕松實現具有微米級空間分辨率的顯微熒光光譜。 2.簡單方便的擴展功能與設計精巧的可選模塊。 3.可實現微米級樣品的反射光譜,透射光譜、熒光光譜,熒光壽命,拉曼光譜等光譜分析測試
2023-05-24 07:17:23286 在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中也具有廣泛的應用。例如,鋼的鑄造組織一般比較粗大,可直接用共聚焦顯微鏡進行觀察,同時可以利用其模擬微合金鋼在
2023-05-18 14:05:46
在調試開發藍牙Mesh產品時,除了打開設備端的Log外,有時還需要用到抓包工具分析空中的Mesh消息格式和交互流程是否正確。目前市面上的抓包儀器價格較貴,在缺少專業的抓包工具時,可通過泰凌自研的藍牙Mesh包解密分析工具進行初步分析。
2023-05-17 10:43:571557 為了支持半導體制造商的自動化需求,先進的電子顯微鏡正在集成人工智能功能,以提供更快的數據生成時間并提高人力和工具資源的生產效率。
2023-05-05 17:17:25500 在材料生產檢測領域中,3d共聚焦測量顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產檢測領域中也具有廣泛的應用。例如,鋼的鑄造組織一般比較粗大,可直接用共聚焦顯微鏡進行觀察,同時可以利用其模擬微
2023-05-04 15:53:48
以共聚焦技術為原理的共聚焦顯微鏡,是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。 中圖儀器VT6000系列三維光學輪廓共聚焦材料顯微鏡基于共聚焦顯微技術,結合精密Z向掃描模塊
2023-04-20 10:52:25
場發射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計,高壓隧道技術(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設計,實現了低電壓高分辨率成像,同時
2023-04-12 11:38:30572 采用掃描電子顯微鏡(SEM,圖1e-g)和原位光學顯微鏡(圖1h-i)研究了在基準電解液(BE:1 M LiPF6, EC/EMC 3:7, v/v)中,不添加和添加KFPB添加劑時沉積Li的形貌變化。含有0.03 M KFPB添加劑的BE被命名為KFPB-BE。
2023-04-07 11:13:371125 中圖儀器VT60003D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡以共聚焦顯微測量技術為原理,主要測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面
2023-03-27 14:05:31
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