檢測l 板卡電性能測試及壽命特征分析l 板卡壽命及加速壽命試驗l 板卡失效分析l 板卡可靠性提升相關(guān)資質(zhì)CNAS服務(wù)
2024-03-15 17:27:02
服務(wù)內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務(wù)、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開發(fā)及軟硬件平臺搭建。服務(wù)范圍● 車體部件:側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的,也是特性參數(shù)測試無法評估的,失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團隊及先進
2024-03-13 16:26:07
許多可靠性“磨損”測試監(jiān)測的是一個性能參數(shù),該參數(shù)隨著對數(shù)變化的時間長度而穩(wěn)步下降。
2024-03-13 14:28:37316 MOS管瞬態(tài)熱阻測試(DVDS)失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因,有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
Ω規(guī)格的IV2Q06060D7Z,均成功通過了嚴苛的車規(guī)級可靠性認證。這一認證標志著瞻芯電子的SiC MOSFET產(chǎn)品已經(jīng)滿足了汽車行業(yè)對高可靠性、高性能的嚴格要求,為新能源汽車市場的高效發(fā)展注入了新的活力。
2024-03-07 09:43:18222 近日,芯進電子推出的高性能電流傳感器CC6922,順利通過廣電計量平臺AEC-Q100車規(guī)級可靠性認證。AEC-Q100認證AEC-Q100認證由國際汽車電子協(xié)會
2024-03-06 08:28:32104 Electronics Council)制定和推動,是集成電路制造商進入汽車行業(yè)的關(guān)鍵認證之一。 該認證主要針對車載應(yīng)用的芯片進行嚴格的質(zhì)量和可靠性驗證,特別是對產(chǎn)品功能和性能進行標準規(guī)范測試,以提高車載電子設(shè)備的穩(wěn)定性和標準化程度。由于車規(guī)級芯片在可靠性、安全性和使用壽命方面的要求較消費級芯片更
2024-03-05 14:00:40128 In Package)產(chǎn)品集成度高、結(jié)構(gòu)復雜、可靠性要求高等特點,對塑封工藝帶來了挑戰(zhàn),目前國內(nèi)工業(yè)級塑封產(chǎn)品不能完全滿足軍用可靠性要求,工業(yè)級塑封產(chǎn)品常在嚴酷的環(huán)境應(yīng)力試驗下表現(xiàn)出失效。本文針對工業(yè)級塑封 SIP 器件在可靠性試驗過程中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象進行分析研
2024-02-23 08:41:26110 電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢,跟隨本文來一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 封裝可靠性最重要的可靠性測試,也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計產(chǎn)品。檢測標準● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
的建議,來消除失效并防止失效的再次發(fā)生,提高產(chǎn)品的可靠性。服務(wù)背景AEC-Q104是基于失效機制的車用多芯片組件(MCM)應(yīng)力測試認證規(guī)范。MCM多芯片模組規(guī)范解決了
2024-01-29 21:47:22
AEC-Q100認證試驗廣電計量失效分析實驗室AEC-Q技術(shù)團隊,執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例,積累了豐富的認證試驗經(jīng)驗,可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認證試驗服務(wù)。服務(wù)背景IC作為
2024-01-29 21:43:34
、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮(Autoclave)試驗服務(wù),設(shè)備能力完全覆蓋以SiC為第三代半導體器件的可靠性試驗?zāi)芰Α7?wù)背景AEC-Q101對對各類半導體
2024-01-29 21:35:04
標準。安森美(onsemi)作為一家半導體供應(yīng)商,為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運行的產(chǎn)品,且這些產(chǎn)品達到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對IGBT進行可靠性測試,今天我們來介紹如何通過可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997 在當今的半導體市場,公司成功的兩個重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預期壽命內(nèi)的長期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營,必須確保產(chǎn)品達到或超過基本的質(zhì)量標準和可靠性
2024-01-17 09:56:32448 導致半導體產(chǎn)品失效的外部環(huán)境條件誘因有許多。因此,產(chǎn)品在被運往目的地之前,需接受特定環(huán)境條件下的可靠性測試,以確保其能夠經(jīng)受住不同環(huán)境條件的考驗。
2024-01-13 11:25:42766 本文將介紹半導體的可靠性測試及標準。除了詳細介紹如何評估和制定相關(guān)標準以外,還將介紹針對半導體封裝預期壽命、半導體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性,及機械可靠性等評估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性? 半導體
2024-01-13 10:24:17712 、濕度相關(guān)的可靠性試驗,對失效的產(chǎn)品進行部件或者材料更換,直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設(shè)計,然而未對失效的產(chǎn)品的失效根本原因進行分析,對此后的技術(shù)發(fā)展有很大的阻礙作用。 Lab Companion 實驗室在燈具
2024-01-11 16:48:40143 杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability WLR)測試設(shè)備,該設(shè)備具備智能并行測試功能,能夠顯著縮短測試時間,提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23362 在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會很容易地找到市場失效的原因了呢?答案是否定的。不管是對收集到的市場失效信息還是對故障解析報告的解讀、分析都需要相應(yīng)的專業(yè)技能作為背景,對整機進行的測試也需要相應(yīng)的測試技能。
2023-12-27 15:41:37278 當今競爭激烈的汽車市場中,汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費者選擇的重要標準。通過整車可靠性測試,汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色,從而贏得消費者的信任和滿意度。
此外,整車
2023-12-22 17:16:20355 在進行船舶產(chǎn)品可靠性測試之前,需要進行了充分的準備工作。需要準備各種先進的測試設(shè)備和儀器。得以模擬真實使用環(huán)境中的條件,如溫度、濕度、壓力等,以確保測試的準確性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153 半導體可靠性測試主要是為了評估半導體器件在實際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項目包括多種測試方法和技術(shù),以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導體可靠性測試的詳細
2023-12-20 17:09:04696 ▼關(guān)注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會面臨各種失效風險,筆者平時也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530 MTBF測試是什么試驗? MTBF,即平均故障間隔時間,是衡量一個產(chǎn)品(尤其是電器產(chǎn)品)的可靠性指標。 通過壽命試驗,可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)
2023-12-14 17:29:54350 SDNAND可靠性驗證測試的重要性SDNAND可靠性驗證測試至關(guān)重要。通過檢驗數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性,確保產(chǎn)品符合標準,可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽,減少維修成本,確保
2023-12-14 14:29:34164 可靠性測試是電源模塊測試的一項重要測試內(nèi)容,是檢測電源模塊穩(wěn)定性、運行狀況的重要測試方法。隨著對電源模塊的測試要求越來越高,用電源模塊測試系統(tǒng)測試電源模塊可以提高測試效率,確保測試結(jié)果可靠性,滿足測試要求。
2023-12-13 15:36:36384 近日,杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability WLR)測試設(shè)備。該產(chǎn)品支持智能并行測試,可大幅度縮短WLR的測試時間。同時,可以結(jié)合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來提升用戶工作效率。
2023-12-07 11:47:37434 振弦采集儀在安全監(jiān)測中的可靠性與精度分析 振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中是一種常見的監(jiān)測手段,它可以通過采集巖體或土體振動信號來判斷其穩(wěn)定性和變形情況。在實際應(yīng)用中,振弦采集儀的可靠性和精度是極為重要
2023-12-06 13:31:33155 振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中的可靠性與精度分析 振弦采集儀是一種用于土體和巖體監(jiān)測的重要設(shè)備,它可以通過測量振動信號來獲取土體或巖體的力學參數(shù),如應(yīng)力、應(yīng)變、彈性模量等。而振弦采集儀的可靠性和精度
2023-12-06 13:27:26122 加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測試:需要對芯片進行加速環(huán)境應(yīng)力測試,模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測試旨在評估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-12-05 14:05:28565 )選擇優(yōu)質(zhì)器件。
元器件是設(shè)備的基本組成單元,其質(zhì)量的好壞將直接影響到設(shè)備的可靠性。軍用通信設(shè)備應(yīng)盡量采用工業(yè)級以上產(chǎn)品,最好是軍品,并在上機前嚴格進行老化篩選,剔除早期失效器件。
(6)充分利用
2023-11-22 06:29:05
可靠性測試是半導體器件測試的一項重要測試內(nèi)容,確保半導體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長時間工作下的穩(wěn)定性。半導體可靠性測試項目眾多,測試方法多樣,常見的有高低溫測試、熱阻測試、機械沖擊測試、引線鍵合強度測試等。
2023-11-09 15:57:52748 芯片的老化試驗及可靠性如何測試? 芯片的老化試驗及可靠性測試是評估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激,并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細
2023-11-09 09:12:011120 機械溫控開關(guān)的可靠性有多少?我看溫控開關(guān)的體積很小,價格便宜,可以用于一些溫度控制方面,不過可靠性有多少呢?
2023-10-31 06:37:26
分析表明,焊接界面粗糙,平整度較差時,楔形魚尾狀根部容易受傷或粘接不牢固,導致鍵合拉力強度過低。為了提高金絲鍵合工藝可靠性,可以采用補球的工藝,在第二焊點魚尾上種植一個金絲安全球,提高鍵合引線第二
2023-10-26 10:08:26638 場景即測試空間內(nèi)的失效概率。本文將由此出發(fā),介紹若干可以用來估計罕見事件發(fā)生概率的可靠性分析方法。 01. 問題定義 我們將一個擁有D個可泛化參數(shù)的邏輯場景等價于? ?維參數(shù)空間? ?,其中? ?是一組隨機變量,其分布函數(shù)由邏輯場景決定,而? ?
2023-10-25 19:10:02253 半導體器件可靠性測試指的是評估半導體器件在不同工作條件下的長期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測試和分析方法。這些測試旨在確保半導體器件在其設(shè)計壽命內(nèi)能夠正常運行,不會出現(xiàn)意外故障,從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
2023-10-25 09:19:15635 解決途徑和方法,對提高芯片粘接強度和粘接可靠性具有參考價值。文章還指出了芯片粘接強度測試過程中的一些不當或注意點及其影響,并對不當?shù)?b class="flag-6" style="color: red">測試方法給出了改進方法,能有效地避免測試方法不當帶來的誤判。
2023-10-18 18:24:02395 智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備,它使你可以通過手機或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門、車門、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式,但是這種設(shè)備并非完美無缺,它也面臨著一些風險和缺陷,需要經(jīng)過可靠性測試,確保它能夠可靠地運行。
2023-10-17 14:07:57239 1級降額,最大的降額,適用于: a.失效將導致人員傷亡或設(shè)備及保護措施的嚴重破壞; b.高可靠性要求的設(shè)備卻采用了新技術(shù)新工藝; c.設(shè)備失效不能維修; d.系統(tǒng)對設(shè)備的尺寸重量有苛刻限制。
2023-10-12 11:04:412359 電子元器件可靠性測試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個重要測試項目,同時也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測試項目有機械沖擊測試、高溫存儲測試、溫度循壞測試、引線鍵合強度測試等。
2023-10-11 14:49:05350 基于可靠性試驗所用的菊花鏈測試結(jié)構(gòu),對所設(shè)計的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造,并對不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進行電學測試表征、可靠性測試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217 本文主要設(shè)計了用于封裝可靠性測試的菊花鏈結(jié)構(gòu),研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法,針對芯片偏移、RDL 分層兩個主要失效問題進行了相應(yīng)的工藝改善。經(jīng)過可靠性試驗對封裝的工藝進行了驗證,通過菊花鏈的通斷測試和阻值變化,對失效位置定位進行了相應(yīng)的失效分析。
2023-10-07 11:29:02410 可靠性是另一關(guān)注的重點。目前,環(huán)球儀器SMT工藝實驗室正在進行的另一個項目就是堆疊裝配可靠性研究。從目前采用跌落測試的研究結(jié)果來看,失效主要發(fā)生在兩層元件之間的連接。
2023-09-27 15:09:57190 通過PLC組態(tài)軟件提高系統(tǒng)可靠性的幾項措施
2023-09-25 06:26:12
服務(wù)內(nèi)容廣電計量是國內(nèi)振動試驗?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測認證服務(wù)機構(gòu)之一,配備了(1~35)噸不同推力的振動臺,可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動測試需求。服務(wù)范圍本商品可提供針對家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
龍騰半導體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實驗中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計驗證、參數(shù)檢測、可靠性驗證、失效分析及應(yīng)用評估,公司參考半導體行業(yè)可靠性試驗條件和抽樣原則,制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對產(chǎn)品進行完整可靠性驗證。
2023-09-20 16:29:21808 硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別,對產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
標準,系基于失效機理的IC電路應(yīng)力測試鑒定,是適用于車用芯片的綜合可靠性測試,也是全球汽車產(chǎn)業(yè)零件供貨商生產(chǎn)的重要指南。
● AEC-Q100可靠性認證門檻高,測試項目覆蓋廣(7大類別41項目),如
2023-09-15 12:04:18
滾動軸承的可靠性與滾動軸承的失效形式有著密切的關(guān)系,要提高軸承的可靠性,就必須從軸承的失效形式著手,仔細分析滾動軸承的失效原因,才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:51212 ? 走進龍騰實驗室 功率器件可靠性試驗測試項目系列專題(一) ? 可靠性實驗室介紹 ? 龍騰半導體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實驗中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計驗證、參數(shù)檢測、可靠性驗證、失效分析及應(yīng)用評估,公司
2023-09-12 10:23:45698 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051331 半導體失效分析? 半導體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展,電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分,而半導體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736 壽命測試是一種重要的可靠性測試方法,用于評估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測試旨在模擬實際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力,例如時間、溫度、振動、沖擊、電壓等,并通過持續(xù)的測試和監(jiān)測來觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505 電子設(shè)備的持續(xù)小型化使得PCB板的布局越來越緊湊,然而不合理的PCB板布局嚴重影響了板上電子元器件的熱傳遞通路,從而導致電子元器件的可靠性因溫度升高而失效,也即系統(tǒng)可靠性大大降低。這也使得PCB板的溫升問題上升到一定的高度。
2023-08-01 14:20:08415 ,規(guī)劃評估驗證策略,制定認證測試規(guī)范性準則,最終完成各項驗證測試項目,出具權(quán)威檢驗認證報告。 該業(yè)務(wù)結(jié)合多種測試和FA手段,確定失效模式、探究失效機理,幫助客戶定位失效根因。 測試設(shè)備介紹? ? 1.晶圓級WLR工藝可靠性測
2023-07-23 11:16:121376 可靠性,是指產(chǎn)品在規(guī)定時間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力,是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標,如果在規(guī)定時間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能,則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障。可靠性測試項目的科學性、合理性,抽樣和試驗
2023-07-21 10:36:26619 2023年7月13日訊,在第十屆汽車電子創(chuàng)新大會上,以上海市汽車工程學會和上海汽車芯片工程中心為代表的聯(lián)合審核平臺正式與靈動股份簽署了《上汽車規(guī)芯片可靠性認證審核委托意向書》。本次《意向書》的簽署
2023-07-14 10:11:46356 在半導體器件中,常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下,加速測試不改變故障的物理特性,但會轉(zhuǎn)移觀察時間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導體可靠性測試有哪些?讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182548 總之,可靠性分配是一種有助于理解復雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過將系統(tǒng)分解為更小的組件,并為每個組件分配可靠性指標,可以進行更詳細和全面的可靠性分析,從而提高系統(tǒng)的可靠性和性能。
2023-07-11 10:48:01810 設(shè)備的可靠性涉及多個方面:穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴格的測試以及市場和時間的檢驗等等。
2023-07-11 10:09:32213 和儲存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機理。191-0751-6775陳S 常規(guī)的可靠性測試項目如下: 1、氣候環(huán)境測試:高溫測試、低溫測試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測試、冷熱沖擊測試、快速溫變測試、低氣壓測試、
2023-07-04 14:30:441184 車規(guī)級功率器件未來發(fā)展趨勢
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢,GaAs在細分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評測方面:多應(yīng)力綜合測試方法、新型結(jié)溫測試方法和技術(shù)
●進展方面:國產(chǎn)在趕超進口(參數(shù)和性能),可靠性還需要時間沉淀
2023-07-04 10:48:05415 單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
集成電路封裝的可靠性等提供支撐。通常,集成電路封裝失效分析分為無損失效分析(又稱非破壞性分析)和有損失效分析(又稱破壞性分析)。破壞性物理分析(Destructive Physical
2023-06-21 08:53:40572 通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
GaNPower集成電路的可靠性測試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09
,保險絲/熔斷器提供必要的過負載保護。最新的AEC-Q200修訂版E確定了保險絲/熔斷器廠商的測試要求,并確保符合AEC-Q200認證的保險絲/熔斷器能高標準地滿足耐用性和可靠性。本文介紹了汽車電子理事會、AEC-Q200標準及其新修訂版E。 ? 當今汽車電氣化供電需求復雜而
2023-06-15 16:53:541009 封裝可靠性設(shè)計是指針對集成電路使用中可能出現(xiàn)的封裝失效模式,采取相應(yīng)的設(shè)計技術(shù),消除或控制失效模式,使集成電路滿足規(guī)定的可靠性要求所采取的技術(shù)活動。
2023-06-15 08:59:55505 集成電路可拿性是指.在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時問內(nèi),集成電路完成規(guī)定功能的能力。可通過可靠度、失效率、平均無故障工作時間、平均失效時間等來評價集成電路的可靠性。可靠性包含耐久性、可維修性和設(shè)計可靠性
2023-06-14 09:26:46849 國際通用的車規(guī)級電子元器件測試規(guī)范,成為車用元器件質(zhì)量與可靠性的標志,電子元器件AEC-Q認證測試,對提升產(chǎn)品競爭力,并快速進入供應(yīng)鏈具有重要作用。 華碧實驗室是國內(nèi)領(lǐng)先的集檢測、鑒定、認證和研發(fā)為一體的第三方檢測與分析的
2023-06-12 09:55:26564 軍用電子元器件二篩,二次篩選試驗,進口元器件可靠性篩選試驗
按性質(zhì)分類:
(1)檢查篩選:顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
(2)密封性篩選:液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
芯片測試治具是一種用于芯片測試的實驗室設(shè)備,可以實現(xiàn)芯片的功能測試、參數(shù)測試和性能測試,它可以幫助電子工程師驗證芯片的性能和可靠性,實現(xiàn)芯片的精確測試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 試驗,電壓暫降測試,騷擾功率試驗,電磁抗擾試驗室,射頻測試,電磁場輻射試驗,抗繞度試驗,電瞬態(tài)干擾試驗,插入損耗試驗等。
可靠性試驗/可靠性測試:
可靠性強化試驗,加速壽命試驗(halt),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(ess),可靠性驗收試驗,可靠性鑒定試驗,可靠性增長試驗。
2023-05-23 15:55:57
可靠性測試對于芯片的制造和設(shè)計過程至關(guān)重要。通過進行全面而嚴格的可靠性測試,可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計缺陷、制造問題或環(huán)境敏感性,從而確保芯片在長期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211462 課程名稱:《硬件電路可靠性設(shè)計、測試與案例分析》講師:王老師時間地點:北京6月15日-17日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色1.案例多,案例均來自于電路設(shè)計缺陷導致的實際產(chǎn)品可靠性問題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350 我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預測工作
2023-05-17 08:49:55
芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要,進口芯片在設(shè)計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當下,生產(chǎn)對進口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548 ]是針對于集成電路應(yīng)力測試認證的失效機理,針對于分立器件的標準為 [AEC-Q101],針對于LED的標準為 [AEC-Q102],針對于被動
2023-04-26 17:06:44328 計劃和先前的質(zhì)量分析,然后進行FMEA(故障模式和影響分析)分析并提出防止產(chǎn)品潛在故障的措施,MSA(測量系統(tǒng)分析)必須分析測量結(jié)果的變化以確認測量可靠性,SPC(統(tǒng)計過程控制)掌握生產(chǎn)規(guī)程并使用統(tǒng)計技術(shù)來
2023-04-24 16:34:26
昂貴且復雜的離散互連電纜會降低設(shè)計的可靠性,增加設(shè)計成本和總體設(shè)計尺寸。幸運的是,還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設(shè)計互連要求的經(jīng)濟高效且方便的解決方案,并
2023-04-21 15:52:50
失效率是可靠性最重要的評價標準,所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導作用。
2023-04-20 10:27:041117 對所有制造材料進行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門,尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術(shù)已變得至關(guān)重要,現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925 PCB設(shè)計中的可靠性有哪些? 實踐證明,即使電路原理圖設(shè)計正確,如果PCB設(shè)計不當,也會對電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個簡單的例子,如果PCB兩條細平行線靠得很近的話,則會造成信號波形
2023-04-10 16:03:54
程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來使得PCB在制造的時候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù),供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 半導體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗是一種常用的測試方法,通過模擬實際使用中的高溫環(huán)境,可以評估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗需要仔細設(shè)計實驗方案,包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù),例如 MTBF 和 FIT,BSS138PW BSS84AKW,115
2023-04-03 08:12:35
可靠性/可用性驗證測試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測試,通過向系統(tǒng)注入在實際應(yīng)用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測、定位、隔離以及故障恢復情況,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評估系統(tǒng)可靠性的測試方法。
2023-03-29 09:18:47589 全球領(lǐng)先的智能激光雷達系統(tǒng)科技企業(yè)RoboSense速騰聚創(chuàng)獲國際公認的測試、檢驗和認證機構(gòu)SGS簽發(fā)的AEC-Q100可靠性測試報告與證書。RoboSense速騰聚創(chuàng)激光雷達MEMS振鏡模組成為目前全球唯一通過該認證的激光雷達掃描器件。
2023-03-27 12:04:21769 Weibull分布是最常用于對可靠性數(shù)據(jù)建模的分布。此分布易于解釋且用途廣泛。在可靠性分析中,可以使用此分布回答以下問題: · 預計將在老化期間失效的項目所占的百分比是多少?例如,預計將在8小時老化
2023-03-27 10:32:33880 近日,全球領(lǐng)先的智能激光雷達系統(tǒng)科技企業(yè)RoboSense(速騰聚創(chuàng))獲國際公認的測試、檢驗和認證機構(gòu)SGS簽發(fā)的AEC-Q100可靠性測試報告與證書。
2023-03-27 09:53:20797 嗨,我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測試報告?FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
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