通常人們把紅外輻射稱為紅外光、紅外線。實際上其波段是指其波長約在0.75μm到1000μm的電磁波。人們將其劃分為近、中、遠紅外三部分。近紅外指波長為0.75-3.0μm；中紅外指波長為3.0-20μm；遠紅外則指波長為20-1000μm。由于大氣對紅外輻射的吸收，只留下三個重要的“窗口”區，即1-3μm、3-5μm和8-13μm可讓紅外輻射通過。

　　自然界中凡是溫度高于絕對零度的物體，就會一直向外輻射能量。通過探測并收集這些輻射能，再現物體的輻射起伏，進而顯示出物體的特征信息，這樣的成像系統就是紅外成像系統。

　　基于光電圖像的測量，是以圖像的獲取及其處理為手段，來確定被測對象的諸如空間、時間、溫度、速度以及功能等等有關參數或者特性的一種測量方法。把圖像當作檢測和傳遞的手段或載體加以利用，是一種建立在光學成像技術基礎上并融入了計算機技術、光電子學數字圖像處理技術以及光機電一體化的綜合測量技術，其目的在于從圖像中提取有用的信號。由于其具有非接觸、高靈敏度和高準確度等特點，在信息科學、生命科學、工農業生產和制造業、航空航天、國防軍事、科學研究以及人們的日常生活等領域中得到了廣泛應用，是當代先進測試技術之一。

　　紅外成像系統結構如下圖顯示：

　　圖1.1 紅外成像系統性能模型基本框圖

　　經過近幾十年的發展，紅外成像系統經歷數次變革，已經由最初的點源和線陣掃描型發展到現在的第三代紅外焦平面凝視型系統，目前國外對紅外成像系統實驗室測試的性能參數多達十六七項。

　　位于美國馬薩諸塞州的Optikos公司有35年的光學測試研發歷時，專注于光學鏡頭、可見光及紅外系統測試。