用二端口S參數來表征差分電路的特性

2512785 2008-07-23 | rar | 2048 | 次下載 | 10積分

資料介紹

用二端口S-參數來表征差分電路的特性
■ Sam Belkin
差分電路結構因其更好的增益，二階線性度，突出的抗
雜散響應以及抗躁聲性能而越來越多地被人們采用。這
種電路結構通常需要一個與單端電路相連接的界面，而
這個界面常常是采用“巴倫”器件（Balun），這種巴倫
器件提供了平衡結構-到-不平衡結構的轉換功能。
要通過直接測量的方式來表征平衡電路特性的話，
通常需要使用昂貴的四端口矢量網絡分析儀。射頻應用
工程師還需要確定幅值和相位的不平衡是如何影響差分
電路性能的。遺憾的是，在射頻技術文獻中，很難找到
一種能表征電路特性以及衡量不平衡結構所產生影響的
好的評估方法。
這篇文章的目的就是要幫助射頻應用工程師們通過
使用常規的單端二端口矢量網絡分析儀來準確可靠地解
決作為他們日常工作的差分電路特性的測量問題。本文
介紹了一些用來表征差分電路特性的實用和有效的方
法，特別是差分電壓，共模抑制（CMRR），插入損耗
以及基于二端口S-參數的差分阻抗。差分和共模信號
在差分電路中有兩種主要的信號類型：差分模式或差分
電壓Vdiff 和共模電壓Vcm（見圖2）。它們各自的定義
如下[1]：
? 差分信號是施加在平衡的3 端子系統中未接地
的兩個端子之上的
? 共模信號是相等地施加在平衡放大器或其它差
分器件的未接地的端子之上。