C8051F120/C8051F121/C8051F123/C8051F124/C8051F125/C8051F126/C8051F127和C8051F13x 系列器件是完全集成的混合信號片上系統型MCU 芯片，具有64 個數
字I/O 引腳（100 腳TQFP 封裝）或32 個數字I/O 引腳（64 腳TQFP 封裝）。下面列出了一些主要特
性；有關某一產品的具體特性參見表1.1。
?? 高速、流水線結構的8051 兼容的CIP-51 內核（100MIPS 或50MIPS）
?? 全速、非侵入式的在系統調試接口（片內）
?? 真正12 位或10 位、100 ksps 的ADC，帶PGA 和8 通道模擬多路開關
?? 真正8 位500 ksps 的ADC，帶PGA 和8 通道模擬多路開關（僅C8051F12x）
?? 兩個12 位DAC，具有可編程數據更新方式（僅C8051F12x）
?? 2 周期的16 x 16 乘法和累加引擎（僅C8051F120/1/2/3 和C8051F130/1/2/3）
?? 128KK 或64KB 可在系統編程的FLASH 存儲器
?? 8448（8K+256）字節的片內RAM
?? 可尋址64KB 地址空間的外部數據存儲器接口
?? 硬件實現的SPI、SMBus/ I2C 和兩個UART 串行接口
?? 5 個通用的16 位定時器
?? 具有6 個捕捉/比較模塊的可編程計數器/定時器陣列
?? 片內看門狗定時器、VDD 監視器和溫度傳感器
具有片內VDD 監視器、看門狗定時器和時鐘振蕩器的C8051F12x 和C8051F13x 器件是真正能
獨立工作的片上系統。所有模擬和數字外設均可由用戶固件使能/禁止和配置。FLASH 存儲器還具
有在系統重新編程能力，可用于非易失性數據存儲，并允許現場更新8051 固件。
片內JTAG 調試電路允許使用安裝在最終應用系統上的產品MCU 進行非侵入式（不占用片內資
源）、全速、在系統調試。該調試系統支持觀察和修改存儲器和寄存器，支持斷點、觀察點、單步及
運行和停機命令。在使用JTAG 調試時，所有的模擬和數字外設都可全功能運行。
每個MCU 都可在工業溫度范圍（-45℃到+85℃）工作。端口I/O、/RST 和JTAG 引腳都容許
5V 的輸入信號電壓。有100 腳TQFP 封裝和64 腳TQFP 封裝。表1.1 列出了每個器件的特性和封裝。
圖1.1 ~ 圖1.6 給出了每種器件的功能框圖。