數字電路測試生成算法綜述

2075502 2009-07-10 | rar | 101 | 次下載 | 5積分

資料介紹

隨著數字電路的規模和復雜性不斷增加，自動矢量生成技術己日益成為數字電路測試與診斷的瓶頸環節。本文主要討論了電路的測試及故障檢測的一些基本問題，并對數字電路測試生成的主要算法進行了分析和比較。最后預測了測試矢量自動生成技術的發展趨勢。
數字電路測試與故障診斷包括四個步驟：建立故障字典、加載激勵、回收響應和分離故障，即選擇激勵通道和響應通道并建立激勵矢量和故障模式之間的映射關系，然后向被測對象施加激勵矢量，并采集其響應矢量，最后通過故障字典來分離故障。故障字典先于實際測試而建立，并直接用于測試結束后的故障分析，包含了被測對象故障征兆的全部信息，是貫穿四個測試診斷步驟的關鍵數據。而故障字典對于故障圖樣分辨能力和覆蓋程度的優劣，完全取決于測試激勵矢量的生成質量，這就是數字電路測試矢量自動生成技術所要研究的中心問題。
自從1966年Armstrong提出一維通路敏化法以來，數字電路測試矢量自動生成理論的研究課題經歷了一個從雛型到成熟、從理論到應用、從實用到完備的發展歷程。可以從不同的角度對不同的生成算法進行劃分，如按時間跨度可分為傳統算法和現代算法；按其是否引入隨機策略可分為確定性方法和隨機性方法；按其使用的分析工具可分為代數方法和結構性方法；而按其生成調度策略可分為串行算法和并行算法等。
本文主要介紹了布爾差分法、D算法系列、臨界路徑法以及G-F算法等，著重闡述其算法思想及其相互之間的性能比較，然后對現代ATPG理論中引入的新方法、新思路和前景等進行了簡要的介紹。