在硬件行業中，對于信號的測試往往能直接反映出一個電子元器件的性能好壞，而對于不同速率的信號，所需要的測試標準也是不一樣的。

對于低速信號，它的測試標準就會比較低，比如說測量設備的帶寬要求，是否需要有源等等都會是非常低的標準，但是對于高速信號，這些條件就會變得非常苛刻，不然測試測量結果就會出現較大偏差。

其中比較重點的方向就是信號完整性測試，對于信號完整性的測試手段有很多，有從頻域的，時域的角度，也有一些綜合考量的。具體的選擇需要根據信號的實際情況進行判斷選用，做到事半功倍的效果。

下面就來看一下有哪些高速信號完整性測試的手段。

（4）TDR測試

TDR是英文Time Domain Reflectometry的縮寫，中文名時域反射計，是測量傳輸線特性阻抗的，比如單端信號線，差分信號線，連接器線纜等等。

不過TDR測試時是有要求的，就是和實際測量的東西相結合，比如實際信號線的信號上升沿在100ps，那么輸出脈沖信號的上升沿也要設置在100ps左右。

TDR測試是有精度的，主要影響因素包括反射，校準，讀數選擇等等，其中反射會導致PCB信號線測試值出現嚴重的偏差。

（5）時序測試

時序測試就是時間順序的測試，通常需要支持多個通道的示波器和多個探頭，利用示波器的觸發功能測試來抓取某一時刻的波形時序，不過因為有多個探頭，所以操作時需要使用到機械手臂來做支撐或者多個人協助來抓取多個波形。

為什么要進行時序的原因就是現在的電子產品器件的工作頻率越來越快，時序容限越來越小，所以很可能會產生時序問題，而時序問題又會導致產品不穩定，所以高速信號進行時序測試也是非常重要的。

做時序測試常常會使用到兩個工具，示波器或者是邏輯分析儀，不過如果有的選擇的話，還是建議直接選擇多通道的示波器效果更好。

（6）頻譜測試

在產品的開發初期階段，這種測試運用的比較少，但是到后期的產品整體系統測試時，很多產品是會進行頻譜測試的。

在該測試下，可以直觀的看到某些超標的頻點，然后可以根據頻譜儀來分析板卡上具體哪一部分的頻譜比較高，從而找到超標的根源。